X線発光スペクトル

X線吸収微細構造（XAFS）分光計X線吸収スペクトル試験通常のX光源を利用してX線吸収微細構造（XAFS）のスペクトル測定を実現し、シンクロトロン放射などの重大な科学技術インフラストラクチャ及び電子顕微鏡、X線回折計などの科学機器に対して良好な補充と拡張作用を有する。同製品は現在、北京大学、北京航空航天大学、天津大学、華北電力大学、青海大学、安徽大学など多くの大学に購入されており、関連する科学研究と応用の開拓を効果的に支援している。

デスクトップシステムを小型化し、使いやすい：

・近辺クイックスキャン機能をサポートする、

・その場テストなどの拡張機能をサポートする、

・人体工学は高度に設計され、操作がより便利である；

・実験パラメータの事前設定を内蔵し、迅速な測定を実現する；

・異なるサンプル、異なる測定モードのワンタッチ自動切り替え、

・遠隔データ伝送、リアルタイムに実験プロセスと結果を表示して無人テストをサポートする、

・専門的な応用技術サポートとデータ分析サポート、

・機器は放射線免除資質と多重安全防護インターロックを有し、人身と使用安全を保証する。

XAFS専用曲げ結晶：

・異なる結晶面の配置が完備し、各元素のカバーを実現する、

・プリアライメントインストール、プラグアンドプレイ、

・必要な元素に応じて特殊なメニスカスをカスタマイズし、最適な性能を達成することができる。

X線吸収微細構造（XAFS）分光計X線吸収スペクトル試験エネルギー走査機構：

・連動走査機構、

・光源、曲げ結晶、サンプルと検出器の精密な連動を実現する、

・精度と解像度が高く、安定性が良い。