広エネルギースペクトルX線吸収分光器

国家創科儀広エネルギースペクトルX線吸収分光器スーパーXAFS T2000

コアパラメータ

1.エネルギー範囲：2〜20keV
2.サンプルの光束：≥4×10⁶光子/秒 @ 7-9 keV

3.エネルギー分解能：0.4-0.9eV@2-5keV
4.エネルギー繰返し性：≤30 meV@24h
5.機構精度の調整：エネルギー走査最小ステップ長0.1 eV

適用性が高い

すべての通常サンプル試験を満たすと同時に、リン、カリウム、アクチノイド、有毒、放射性サンプルなどの特殊サンプル試験を満たすことができる。

操作が簡単

1.異なる要素パラメータを内蔵し、測定を迅速に切り替えます。
2.標本データベースを提供し、分析プロセスを簡略化する。
3.多サンプルの自動採取をサポートし、注入回数を減らす。
4.遠隔リアルタイム監視、多重セキュリティインターロック設計を装備する。

国家創科儀広エネルギースペクトルX線吸収分光器スーパーXAFS T2000

X線吸収微細構造分光器（XAFS/XES）は材料の局所構造と電子状態を研究するための非破壊技術である。この技術はX線と物質の相互作用を利用して、指定された元素の近辺吸収スペクトル（XANES）、拡張遠辺吸収スペクトル（EXAFS）と特定のバンド発光スペクトルを取得し、それぞれ元素の化学状態と原子価状態、原子周囲の局所環境の配位構造を分析し、測定元素の配位原子の種類を識別するために使用し、結晶状態と非晶質材料のミクロ配位構造を特徴づける重要な手段である。XAFS/XESは主に触媒、合金、セラミックス、環境汚染物、各種結晶状態と非晶質材料及び生物サンプル内の金属イオンの原子価状態、配位構造及び電子状態分析、及び材料の局所構造の熱場、光場、電場と磁場変化下の局所構造の動的発展過程の研究などに応用される。