Verifire XPZレーザ干渉計

ZYGO Verifire™ XPZ型番のレーザー干渉計は光学部品の平面、球面形と透過波陣面に高速、高精度の干渉測定を提供でき、協力機能が強いMetroPro®ソフトウェアは、高い再現性と高精度の測定結果を得ることができます。

Verifire™XPZ精QUE位相変調技術を用いて試料の微細面形を精密に測定し、高い精que度と繰り返し性を持っている。測定時に干渉空洞を長行**変調し、同時に640 x 480ピクセルCCDデータ収集を行う複数のストライプ画像を取得し、MetroPro®ソフトウェア解析計算。

平面、レンズ、プリズム、精密合金部品、コンピュータディスク、軸受、シール面もあります。研磨材、セラミック、コンタクトミラーなど。過去30年以上にわたって、私たちの干渉計は世界各地の計量装置の好ましいものでした。