汎用型X線吸収スペクトル計

国家創科儀汎用型X線吸収スペクトル計スーパーXAFS H3000

コアパラメータ

1.作業モード：近辺クイックスキャン機能をサポートする、支持透過/蛍光モード吸収スペクトル

2.エネルギー範囲：4.5-20 keV、25 kevにアップグレード可能

3.サンプルにおける光束：≧4×10⁶光子/秒 @ 7-9 keV

4.エネルギー分解能：0.5-1.5eV@7-9keV

5.エネルギー繰返し性：≦30meV@24h

6.調整機構精度：エネルギー走査最小ステップ長0.1 eV

国家創科儀汎用型X線吸収スペクトル計スーパーXAFS H3000

X線吸収微細構造分光器（XAFS/XES）は材料の局所構造と電子状態を研究するための非破壊技術である。この技術はX線と物質の相互作用を利用して、指定された元素の近辺吸収スペクトル（XANES）、拡張遠辺吸収スペクトル（EXAFS）と特定のバンド発光スペクトルを取得し、それぞれ元素の化学状態と原子価状態、原子周囲の局所環境の配位構造を分析し、測定元素の配位原子の種類を識別するために使用し、結晶状態と非晶質材料のミクロ配位構造を特徴づける重要な手段である。XAFS/XESは主に触媒、合金、セラミックス、環境汚染物、各種結晶状態と非晶質材料及び生物サンプル内の金属イオンの原子価状態、配位構造及び電子状態分析、及び材料の局所構造の熱場、光場、電場と磁場変化下の局所構造の動的発展過程の研究などに応用される。

X線吸収スペクトル計の応用分野

触媒研究

触媒活性中心の金属原子価状態（例えばPt²⁺/ Pt⁰）、配位環境及び原子間距離、触媒反応機構（例えば燃料電池触媒の酸素還元活性）を明らかにする。

反応中の触媒の構造変化（CO酸化反応中のCu系触媒の原子価変化など）を追跡する。

ナノ材料特性評価

量子ドット、ナノ酸化物などのナノ粒子の表面原子配位と欠陥濃度（TiOなど）の測定₂ナノチューブ中の酸素空孔）。

グラフェン−金属ナノ粒子の電荷移動などのナノ複合材料の界面電子構造を研究する。

きのうざいりょうぶんせき

LiCoOなどの電池電極材料の検出₂）のリチウム吸蔵／放出過程における元素の原子価状態の変化により、電池性能を最適化する。

磁性材料（例えばFe₃O型₄）の局所磁気環境を用いて、磁気秩序機構を説明する。