超高光束X線吸収微細構造分光計

シンクロトロン放射線装置を「実験室に搬入」

超高光束X線吸収微細構造分光計利点

データの信頼性：データと同期放射線の高さが一致

エネルギー範囲：4.5-15 keV、20 keVまで拡張可能

試験元素：3 d、5 d、希土類元素遷移金属試験を実現する

自主制御可能：90%の部品が自主制御可能、政策リスクなし

高生産性：1年間で顧客の高レベル論文120以上の発表を支援

高性能：1時間以内に1%含有量サンプル試験を完成する

ハイライトフラックス：>2000000 photons/sec@8keV

シンプルで使いやすい：半日のトレーニングでオンライン操作が可能

低メンテナンスコスト：専任者によるメンテナンス、オペレーション、管理などが不要

超高光束X線吸収微細構造分光計げんり

X線吸収微細構造（X-ray Absorption Fine Structure、XAFS）はX線吸収スペクトル（X-ray Absorption Spectroscopy、XAS）とも呼ばれ、同期放射光源に基づいて、材料の局所原子または電子構造を研究する有力なツールであり、触媒、エネルギー、ナノなどの熱達の分野に広く応用されている。

RapidXAFSは独自のJohann型ローランド円モノクロメータ設計を採用し、光源を同期放射する必要はなく、点光源から放射されたX線がBragg方程式を満たし、回折が発生してローランド円の検出器に再集結し、Bragg角度を変えて異なるエネルギーのモノクロ光を得ることで、通常の実験室で高品質のXAFSテストを実施している。

XAFSスペクトル：

X線吸収近辺構造（XANES）

拡張X線吸収微細構造（EXAFS）

EXAFS

エネルギー範囲は概ね吸収端の後50 eVから1000 eVであり、X線で励起された内層光電子の周囲原子と吸収原子間の単電子単次散乱効果の結果に由来する。

XANES

吸収端の前約10 eVから吸収端の後約50 eVの範囲であり、それは主にX線によって励起された内殻層光電子の周囲原子と吸収原子との間の単電子多重散乱効果に由来する。