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常州譜光慧聯科技有限公司
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主な製品:

化学17>製品

過渡吸収スペクトルシステム

交渉可能更新02/06
モデル
製造者の性質
プロデューサー
製品カテゴリー
原産地
概要
Excipolar Spinon過渡吸収分光計、過渡吸収分光システム$r$n•過渡知能化、全自動光路校正、ソフトウェア切替と制御、人工調節を必要とせず、高度統合、自動化、インテリジェント化のワークフローを形成する$r$n•顕微光路設計に基づいて、μm級空間分解能$r$n•185-1700 nm幅帯域$r$n•デュアル分光計配置をカバーし、高信号対雑音比検出
製品詳細

Spinon Excipolar過渡吸収分光計、過渡吸収スペクトルシステム

高分解能、多次元、信頼性、使いやすい

高精度過渡吸収スペクトルシステムマイクロナノ材料、バルク材料、溶液などの過渡吸収特性に強大な試験プラットフォームを提供した。フェムト秒級の時間分解能は異なる時間の吸収特性を正確に特徴づけ、広帯域応答範囲は異なる波長における吸収能力と変化を特徴づけ、ナノ秒級の時間窓は大きい時間スケール範囲内の吸収変化特徴を特徴づけ、ミクロン級の空間分解能はサンプルの空間吸収差異を正確に特徴づけた。低温、光電流、低温磁場などの機能を拡張するなど、顧客のニーズに応じて製品をカスタマイズすることができる。Excipolar Spinonシステムは高分解能、高精度、単色/多色互換、安定で信頼性の高い過渡スペクトル検出システムであり、科学研究と工業検査分野の広範な需要を全面的に満たすことができる。

主な特徴:

高解像度、高精度

•独自の光学設計により、高時間、空間、スペクトル分解能を実現。

•高精度の光学遅延線は光学的安定性を保証しながら、3 fsまでの時間精度を実現することができる。

•高解像度のデュアル分光計構成、高信号対雑音比検出。

•マイクロモジュールを搭載し、μmレベルの空間分解能を達成することができる。

より効率的

•高速分光器収集システム、到達可能Z高2500フレーム/sグローバルサンプリングレート。

•デュアル分光計はスペクトル参照較正機能を備え、テスト信号の安定性を保証する。

•吸収試験範囲185〜1700 nm、すべてのスペクトル範囲データを一度に収集する。

その他の機能と拡張性

•単色または2色ポンプ-プローブまたは過渡吸収試験を行うことができます。

•透過反射励起−収集設計により、透過/反射過渡吸収スペクトルを実現することができる。

•広視野イメージング、キャリア移動、蛍光アップコンバージョン、光Kerr及びナノ秒過渡吸収などの拡張をサポートする

•低温、電気、磁気を組み合わせてその場時間分解スペクトル特性化を行うことができる。

•当社の他のスペクトル製品と結合してマルチスペクトル連合テストを行い、顕微ラマン、蛍光、角分解スペクトルなどの機能を拡張し、その場定常状態と過渡スペクトルを実現することができる。

Spinon Excipolar過渡吸収分光計応用分野:

•バルク材料、薄膜、マイクロナノ材料、ナノ粒子及び溶液の過渡吸収過程。

・半導体材料のキャリア動力学プロセス特性評価、時間領域熱特性評価など。

CrPS 8324ナノプレートのフェムト秒過渡吸収図。カラーはΔOD(mOD)です。時間ゼロ後(>0 ps)は740〜940 nmで全スペクトル吸光度が正の値であった。0点付近に狭くて強い正信号リッジが現れ、その後、広いスペクトルの正吸収背景に進化し、強度は時間とともにゆっくり減衰し、ナノ秒時間スケールまで持続した。

瞬态吸收光谱系统

完全正符号は、動力学が基底漂白ではなく励起状態吸収/自由キャリア吸収を主とすることを示している。超高速強ピーク(<1-2 ps)は熱キャリアまたは高エネルギー状態の瞬時ESAに対応し、急速に減衰する。その後の10−100 psの減衰はキャリア冷却と状態間緩和を体現し、ナノ秒級長尾はトラップ/ポーラロンまたは三重項の等長寿命種の関与を示唆した。わずかな赤方偏移は冷却及びバンドギャップ改質化回復と一致した。

515 nm選択的励起受容体条件下でのマイクロ領域CsPbBr 3単結晶可視帯域の過渡動力学。

瞬态吸收光谱系统

短波領域に明らかな負信号領域が現れ、バンドエッジ基底状態の漂白である、その上縁は時間とともに赤方偏移/広がりの傾向を示し、熱キャリア冷却とバンドギャップ改質化の回復を示している。初期(<1〜2 ps)のバンドエッジ付近に弱い正信号が重畳され、瞬時励起状態吸収に属し、急速に減衰する。その後、数十〜数百ピコ秒で漂白はゆっくりと回復したが、ナノ秒スケールまで持続し、キャリア再結合が遅い/トラップ放出を伴う可能性があることを示した、中長波側(〜620〜660 nm)は、より高いエネルギー準位または電荷/フォノン関連のESA成分に対応する、緩やかに減衰した幅広で弱い正吸収を見ることができる。