TEM小室-ICテスト

FF-T 01 Aは8 GHzまでのTEM小室であり、FCC-TEM-JMCを対標し、ICテストに適している。

FF−T 01 Aは、デバイスの動作周波数範囲を既存のデバイスには及ばない領域に拡張し、IC集積回路に対して8 GHzからの伝導発光と耐摂動度試験を行うことができ、この集積回路は固定式の試験窓に設置され、設置が完了すると、IEC 61967−2、IEC 61967−8、SAE 1752−3、IEC 62132−8、GB／T 42968.2−2024標準に従って8 GHz以内で試験を行うことができる。IC試験は、集積回路のEMC試験における放射線干渉防止試験項目を完了するためにYDT 1690.2−2007の旧規格を使用することに限定されない。

同シリーズ製品はカスタム開発をサポートしている。

パラメータ:

適用周波数：DC-8 GHz

VSWR：＜1.2