TEM小室-ICテスト

FF-T 02 Aは3 GHzから6 GHzまでのTEM小室であり、FCC-TEM-JMCに対してICテストに適している。

FF-T 01 Aはデバイスの動作周波数範囲を既存のデバイスには及ばない領域に拡張し、それによりIC集積回路に対して3 GHzからの伝導発光と耐摂動度試験を行うことができ、この集積回路は固定式の試験窓（高速クランプ治具を追加することができる）に設置され、設置が完了すると、IEC 61967-2、IEC 61967-8、SAE 1752-3、IEC 62132-8及びGB/T 42968.2-2024標準に従って3 GHz以内で試験を行うことができる。IC試験は、集積回路のEMC試験における放射線干渉防止試験項目を完了するためにYDT 1690.2−2007の旧規格を使用することに限定されない。

同シリーズ製品はカスタム開発をサポートしている。

パラメータ:
外形寸法：137*56*32 mm

適用周波数：DC-3 GHz（6 GHz*）

VSWR：＜1.2