単結晶X線回折計

単結晶X線回折計機器の特徴：

機械全体にプログラム可能コントローラPLC制御技術を採用する、

操作が便利で、ワンタッチ式収集システム、

モジュール化設計、部品のプラグアンドプレイ、校正不要、

タッチパネルはリアルタイムでオンライン監視し、機器の状態を表示する。

高出力X線発生器、性能が安定で信頼性がある、

電子鉛ドアインターロック装置、二重防護。

単結晶X線回折計機器機能：

TD−5000 X線単結晶回折計は主に無機物、有機物と金属錯体などの結晶物質の三次元空間構造と電子雲密度を測定し、双晶、非公度結晶、準結晶などの特殊な材料構造を分析するために用いられる。新しい化合物（結晶状態）分子の正確な三次元空間（結合長、結合角、構造、立体配置、結合電子密度を含む）及び結晶格子中の分子の実際の配列状況を測定する、結晶の単位胞パラメータ、所属する空間群、結晶分子構造、分子間水素結合と弱作用の情報、及び分子の構造及び構造などの構造情報を提供することができる。それは広く化学結晶学、分子生物学、薬学、鉱物学と材料科学などの方面の分析研究に用いられている。

計器精度：

2θ角繰返し精度：0.0001°、

ZUI小ステップ角度：0.0001°、

温度制御範囲：100 K〜300 K、

制御精度：±0.3 K。

角計：

四円同心技術を用いて、どのような回転が発生しても測角器の中心を一定に保つことができ、正確なデータを得る目的を実現し、より高い完全率を得ることができ、四円同心は通常の単結晶スキャンの必要条件である。

検出器の設計はX線検出器分野の革命的な成果であり、それは比較的に良いデータ品質を実現することができ、同時に低消費電力と低冷却の特徴を保証することができ、この検出器は単一光子計数と混合画素という2つの重要な技術を結合し、同期放射線と通常の実験室光源などの各分野に応用し、読み出しノイズと暗電流の干渉を効果的に排除し、混合画素技術は直接X線を検出することができ、信号をより容易に識別することができ、そしてこの検出器は高効率に良質なデータを提供することができ、あなたの比較的挑戦的なサンプルから良いデータを得ることができる。

検出器：

検出器は比較的に良いデータ品質を実現することができ、同時に低消費電力と低冷却の特徴を保証することができ、この検出器は単光子計数と混合画素という2つの重要な技術を結合し、同期放射と通常の実験室光源などの各分野に応用し、読み出しノイズと暗電流の干渉を効果的に排除し、混合画素技術は直接X線を検出することができ、信号をより容易に識別することができ、そして検出器は高効率に良質なデータを提供することができる。

プローブの特徴（オプション）：

感応領域[mm 2]：83.8×70.0

ピクセルサイズ[µm 2]：172×172

ピクセル間隔:<0.03%

zui大フレームレート[Hz]：20

読み出し時間[ms]：7

エネルギー範囲[keV]：3.5-18

低温設備：

低温装置によって収集されたデータ結果はより理想的であり、低温装置の作用の下でより多くの優位条件を提供することができ、理想的な結晶に理想的な結果を得ることができ、理想的な結晶により理想的な結果を得ることができる。
温度制御範囲：100 K ~ 300 K、制御精度：±0.3 K、液体窒素消費量：1.1 ~ 2リットル/時間、

制御ソフトウェアとテスト結果：

オプションの添付ファイル：

多層膜フォーカスレンズ：

X線管出力：30 Wまたは50 Wなど、発散度：0.5 ~ 1 mrad、

X線管ターゲット：Mo/Cuターゲット、焦点スポット：0.5 ~ 2 mm。