科学的-ケルビンプローブ

科学的-ケルビンプローブ：

多くの材料の特性はその表面によって決定される。最も重要な表面特性の1つは仕事関数である。

科学的-ケルビンプローブ異なる半導体と導電性材料の仕事関数を正確に測定することができ、高い精度と正確性を持つ。

非接触測定は発振容量に関し、一方の電極は試料であり、他方の電極は金ゲート発振参照電極である。したがって、測定値は金の仕事関数（5.1 eV）を参照する。測定解像度は0.1 meVに達することができ、集積時間は十分に長い。ケルビンプローブは、腐食、吸着/脱着、表面充電、触媒活性など、さまざまなタイプの表面研究に使用できます。

使いやすいように、プローブにはレーザーペンとデジタル顕微鏡が付いている。電動垂直位置決めシステムは、標本表面と同じ距離にある基準電極の再現を可能にする（精度は10 um）。X-Y位置決めはオプションとしてインストールできます。このシステムには広帯域ライトガイドも搭載されており、デジタル制御モノクロメータや高圧キセノンアークランプと併用することができる。波長範囲は300〜1000 nmであり、連続またはパルス試料照明に用いることができる。

この構成により、表面の動作機能と電荷、表面光電圧スペクトル、その他の光物理技術を測定することができ、光電圧分解能は5 mVより優れている（長い集積時間を適用すると0.1 mV）。システム全体に接地ファラデーケージを採用し、電気ノイズや迷光の影響を低減しています。この表面光電圧分光計は、光触媒、有機及び無機半導体、太陽電池及びその他の光活性材料及びデバイスを研究するために必要なツールである。

このケルビンプローブ/表面光電圧分光器により、半導体の光腐食、光脱着、光触媒反応をリアルタイムで監視することも可能になる。

せっけい

この装置は、固定ブラケットに取り付けられた揺動金プローブ、z軸電動テーブル、電子制御ユニット、ファラデーケージから構成されている。

試料は手動または電動xyテーブル上に置き、移動範囲は任意の方向に1.5 cmである。

プローブは、サンプルから必要な距離に置くことができるz段に接続されています。

赤いレーザーポインターが測定中にプローブが振動する場所を示しています。

システムがファラデーケージに覆われている場合、USB顕微鏡と白色LEDはこのとき良い役割を果たすことができます。

光は液体導波路または光ファイバを介して試料中に伝送されるので、光源によって発生する可能性のある電磁干渉が除去される。

アイドル運転中やストレージ中に、脆弱な金プローブは不測の損傷を防ぐために保護された空間に戻されます。

このシステムには自動サンプル高さセンサーも搭載されている。

プローブ我が社による設計および製造されたコンポーネント。次の機能を提供します。

サンプル上0.5 mmの距離でも大きな信号があるので、サンプル表面が粗いか研磨されているかどうかは重要ではありません。

光を通過させることができる透明度。この方法により、サンプルを垂直なビームで照らすことができる。

振動は電磁石によって発生する。

探査機全体がファラデーケージを覆い、外部環境の影響を受けないようにしている。

仕様