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上海波銘科学器械有限公司
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SR-750超高分解能分光計

交渉可能更新01/21
モデル
製造者の性質
プロデューサー
製品カテゴリー
原産地
概要
SR-750は多種のアクセサリを配置し、応用分野を開拓することができ、透過/反射/吸収スペクトル、Ramanスペクトル、蛍光スペクトル、レーザー誘導解離スペクトルなどの実験において、良質なシステム解決方案を提供する。
製品詳細

革新的な光学デバイス設計を組み合わせて、SR-750はAndor社の各タイプの高性能スペクトル専用CCD/ICCDを配合して、非常に便利に空間多点スペクトルの同時収集と測定を行うことができます。SR-750は多種のアクセサリを用いて、応用分野を開拓することができて、透過/反射/吸収スペクトル、Ramanスペクトル、蛍光スペクトル、レーザー誘導解離スペクトルなどの実験の中で、*良いシステム解決方案を提供する。
SR-750超高分辨率光谱仪

SR-750超高分解能分光計主な特徴:
•解像度*最大0.02 nm
•多重スペクトル最適化光路、低クロストーク、高密度多重スペクトル検出
•異なるタイプのプローブをインストールして異なる実験ニーズに対応するデュアルプローブ出口オプション
•光素子銀メッキオプションにより、赤外線検出器のより良い性能を保証
SR-750超高分辨率光谱仪

SR-750超高分解能分光計技術パラメータ:

モデル シャムロック 750
焦点距離の長さ 750ミリメートル
通光孔径(F/#) F/9.8型
焦点平面寸法 30mm×14mm
スペクトル分解能@1200 l/mm、500 nm 0.04nm
ラスタタービン さんこうし
オートフォーカス
TruResTM解像度拡張オプション
波長精度 0.03nm
波長繰返し精度 午後10時

異なるラスタに対応する解像度とオーバーレイ帯域幅:

SR-750超高分辨率光谱仪

SR-750超高分辨率光谱仪

緑:無制限自由使用領域、黄色:システム解像度に影響を与える可能性があります、赤:システム解像度に影響

ラスタ効率曲線

SR-750超高分辨率光谱仪簡単な4ステップ分光計構成の選択:
SR-750超高分辨率光谱仪