蔡司EVO 18を材料分析に応用した研究級走査電子顕微鏡

交渉可能更新01/19

モデル

製造者の性質: プロデューサー

製品カテゴリー

原産地

オンラインコンサルト

概要

材料分析に蔡司EVO 18を応用した研究級走査電子顕微鏡の全セット材料分析ソリューションEVO 18はすべての材料タイプを処理する能力を持つ分析型顕微鏡であり、優れたイメージング品質を提供する

製品詳細

蔡司EVO 18は材料分析に用いるべき研究級走査電子顕微鏡である

完全な材料分析ソリューション
EVO 18はすべての材料タイプを処理する能力を持つ分析型顕微鏡で、優れたイメージング品質を提供します。標準配置エネルギースペクトル計とスペクトル計（EDS&WDS）インタフェース。LaB 6の高輝度光源をアップグレードすることで、X線分析に関連するプローブ電流性能を新しいレベルに向上させた。EVO 18走査電子顕微鏡の5段ダイオード後方散乱電子（BSE）検出器は、低電圧性能の向上とより豊富な形態情報の提供に役立つ。非導電性試料の場合、電子ビームライニング技術は効率的に分解能を向上させることができる。どのような困難な材料分析アプリケーションに対応しても、EVO 18は常にサンプルを明確にすることができます。

蔡司EVO 18：よりシンプル、よりスマート、より高度な統合

蔡司EVO 18応用例

適用無制限

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お客様のニーズに合わせて、EVO 18 ResearchとEVO 18 Particle Analyzerの追加オプションを使用してシステムをカスタマイズします。

SmartBrowse
SmartBrowseは後期画像収集の関連式である
ツールのようです。この蔡司特許ソフトウェアにより、シングル幅で
または関連する画像に異なる倍率、異なるプローブを表示する
の画像を表示します。画像データを階層化して異なる撮像を関連付ける
モデルを使用して、最も豊富なサンプル情報を取得します。
SmartSEMソフトウェアの使いやすさを組み合わせて、このパッケージは
画像間の相関を空間的および撮像パラメータから完全に理解するのを支援する
接続情報。

SmartStitch
SmartStitch、シングルSEM画像収集の新たな環境をオープン
境界線
SmartStitchは大面積マッピングのための直感的な画像収集である
とスプライスソフトウェアソリューションを提供します。まず一連の高解像度を収集する
画像を結合して
完全な画像を1枚作成します。

プローブオプション
EVO 18によるアップグレードにより、さまざまな対応が可能
を使用して、必要なイメージング結果を取得します。この走査型電子顕微鏡は多種の探査をサポートしている
試料電流検出器（SCD）、可変電圧などの測定器オプション
力二次電子検出器（VPSE）及び陰極蛍光検出器
（CL）。

技術パラメータ
EVO 18の主なパラメータ：
将来のアップグレード可能な方法：電子ビームライニング
画像ストレージ：
解像度：最大3072 x 2304ピクセル
積分平均法による信号収集
画像表示：
1024 x 768ピクセルの解像度でSEM画像を表示できる高品質フラットパネルディスプレイ
デュアルチャネル表示のサポート
システム制御：
マウスとキーボードで操作するSmartSEM**イメージのユーザーインタフェース
Windows® 7多言語版
実用的な要件：
100 - 230 V，50または60 Hz単相
水冷は不要
ジョイスティック、美標キーボード、美標コントロールパネル、マウスを搭載
*OptiBeam–プロアクティブミラーカートリッジで最高解像度、最大視野、最適被写界深度を制御
＊＊SmartSEM–第5世代走査電子顕微鏡制御画像ユーザーインタフェース

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