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超高純度シリコン粉末標準基準物

ネゴシエーション可能更新05/06
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概要

超高純度シリコン粉末標準基準物$r$nは主にX線粉末回折計(XRD)の較正に用いられ、材料科学、半導体及び化学工業などの分野の結晶構造分析の重要な基準である。

製品詳細

北京華新康信生物科学技術有限公司はNISTブランド代理店である。

超高純度シリコン粉末標準基準物大量の現物、選択購入を歓迎して、協力して共に勝ちます。

NIST華新康信

北京華新康信生物科学技術有限公司は生命科学分野に専念し、豊富な経験を持つ技術チームと管理チームによって設立され、主に生物化学試薬、計器、実験消耗品などを扱っている。

1幅広い製品放射線領域、試薬、消耗品、機器など。

2製品の種類がそろっており、北京華新康信は海外の多くの生命科学分野と協力している。

生命科学の発展に続いて、お客様のニーズを絶えず満たし、科学研究の道にレンガを追加します!

3一手の商品源、価格優位性が明らかである

4信用は良好で、取引先の範囲は広く、清華、北京大、交大、復旦、中山などの100余りの大学、百泰薬業、康龍化成、薬明康徳などの企業を含む。

NIST SRM 640 gは、米国国立標準技術研究院(NIST)が開発したものです。超高純度シリコン粉末標準基準物質鄒、主にX線粉末回折計(XRD)の校正に用いられ、材料科学、半導体と化学工業などの分野の結晶構造分析の重要な基準である。

コアパラメータと用途

主な用途:回折線位置(2θ角)と線形(ピーク幅)の標準として、XRD機器の校正と性能検証に用いられる。

規格:1本あたり約7.5 g、アルゴンガス環境下でカプセル化し、吸湿と汚染を防止する。

材料源:ドイツのSiltronic AGから供給された超高純度真性シリコンインゴットから製造され、粉砕、噴射研磨を経て中央値粒子径鄒4.1μm鄒まで研磨され、1000℃アルゴン中で2時間焼鈍して格子応力を除去した。

認証値:22.5℃において、格子パラメータは鄒0.543144 nm±0.000008 nm鄒であり、量値は国際単位系(SI)に遡及し、高度な精度と比較性を有する。

均一性:XRD分析により、材料は回折特性の面で高度に均一であり、相対格子変化≦±4.8×10Å(95%信頼区間)であることを表明した。

使用と保管の仕様

貯蔵条件:環境温度で保存する必要があり、未使用部分は原瓶に密封し、アルゴンガス保護を維持し、汚染や湿気を避ける必要がある。

認証有効期間:規定不確定度の範囲内で期限なしに有効であり、定期的に再認証する必要はないが、材料が損傷されたり、汚染されたり、不適切に処理されたりすると、認証は失効する。

拡張情報

この規格品はまた、ローレンツ分布の全幅半最大値(FWHM)のような情報値を提供し、サンプルによる拡幅効果を評価するために使用され、平均体積重み付け領域サイズに対応して約0.4µmµである。また、粒度分布はレーザー散乱により測定され、典型的な中位粒径は4.1μmである。