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メール
fanzhihai@bestyiqi.com
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電話
18896733756
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住所
中国（上海）自由貿易試験区富特北路211号302部位368室
Meipule Technology (Shanghai) Co., Ltd
概要
QVWLI 606白色光干渉複合型高精度3 D測定映像計、三豊HuickViseonWli帯白色光干渉複合型高精度3 D測定映像計は、WLI光学系が取得した3 Dデータに基づいて表面形状解析/3次元粗さ解析を行うことができる。3 Dデータに基づいて指定された高さの寸法測定や断面形状測定も行うことができます。
製品詳細
QVWLI 606白色光干渉複合型高精度3 D測定映像計、三豊HuickViseonWli帯白色光干渉複合型高精度3 D測定映像計は、WLI光学系で取得した3 Dデータに基づいて表面形状解析/3次元粗さ解析を行うことができる。3 Dデータに基づいて指定された高さの寸法測定や断面形状測定も行うことができます。
QVWLI 606白色光干渉複合型高精度3 D測定映像計、三豊HuickViseonWli帯白色光干渉複合型高精度3 D測定映像計は、WLI光学系で取得した3 Dデータに基づいて表面形状解析/3次元粗さ解析を行うことができる。3 Dデータに基づいて指定された高さの寸法測定や断面形状測定も行うことができます。
製品の特徴と利点
ハイパー QVWLIは白色光干渉計を備えた複合型高精度3 D測定システムである。
WLI光学系で取得した3 Dデータに基づく表面形状解析が可能/3次元粗さ解析。3 Dデータに基づいて指定された高さの寸法測定や断面形状測定も行うことができます。
製品ラインナップ
モデル
測定範囲：
X軸最大（mm）Y軸最大（mm）Z軸最大（mm）
ハイパーQVWLI は302 300 200 190
ハイパーQVWLI は404 400 400 240
ハイパーQVWLI は606 600 650 220
