英国オックスフォードOxford CMI 95 Mハンドヘルド銅箔厚さ測定器

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製造者の性質: プロデューサー

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オンラインコンサルト

概要

CMI 95 Mは、銅箔の厚さをテストするために設計された電池に電力を供給するハンドヘルド厚さ測定器で、プリント基板上の銅箔の厚さを1秒以内に測定することができ、1/8から4.0オンス/平方フィート（5～140ミクロン）の範囲である。

製品詳細

製品の説明

CMI 95 Mは、銅箔の厚さをテストするために設計された電池に電力を供給するハンドヘルド厚さ測定器で、プリント基板上の銅箔の厚さを1秒以内に測定することができ、1/8から4.0オンス/平方フィート（5～140ミクロン）の範囲である。Measure copper foil thickness in less than a secondCMI 95 Mは工場によって調整され、標準映画は必要ありません。製品のすべての軟質プローブを銅箔の表面に置くだけで、銅箔の厚さに関する指示を見ることができる便利さがあります。

機器の特徴：

※高い回収再生コストを回避-特定銅箔の厚さを迅速かつ正確に同定

※業界で認められた堅牢で使いやすく、手頃な価格のハンドヘルド厚さ測定器、厚さ測定による選別銅箔シート

※非破壊性検査-新型CMI 95 Mに超軟接触式プローブを搭載し、銅箔表面の傷付きを避ける

※耐久性があり、操作が簡単

※工場出荷前の校正、標準シート不要

※低電力リマインダ

※CE認証

構成内容：CMI 95M、統合プローブ、9 Vバッテリ、保護カバー/ベルトクリップ、クイックスタートガイド、1年間の保証

金属めっき層の厚さ測定のソリューション、関連部品及び消耗品について、オックスフォード計器提供グローバル規模の優れたプリセールスアフターサービスとテクニカルサポート。

	CMI95M	CMI165	CMI511	CMI563	CMI760
Technique	Microresistance	Microresistance	Eddy current	Microresistance	Microresistance
Copper Foil	✔	✔	X	✔	✔
Copper Laminate	✔	✔	X	✔	✔
Copper - Surface	X	✔	X	✔	✔
Copper - Fine Line	X	✔	X	✔	✔
Copper Thru-hole	X	X	✔	X	Optional
Temperature Compensation	X	✔	✔	X	✔ (ETP Probe)
Replacement Probe Tip	N/A	✔	X	✔	✔ (SRP-4 Probe)
Unit Selection	oz or µm	mil or µm	mil or µm	mil or µm	mil or µm
Replacement Probe Tip	±1.0 mil + 5%	±1.0 mil + 5%	±1.0 mil + 5%	±1.0 mil + 5%	±1.0 mil + 5%
Unit Selection	0.5 mil	0.01 mil	0.01 mil	0.01 mil	0.01 mil
Thickness Range	8 indicator lights: 1/8-4 oz 5-140 µm	Electroless Cu: 0.01-0.5 mil 0.25-12.7 µm Electroplated Cu 0.1-10 mil 2-254 µm	0.08-4.0 mil 2-102 um	Electroless Cu: 0.01-0.5 mil 0.25-12.7 µm Electroplated Cu 0.1-6 mil 3-152 µm	Surface Cu: 0.01-10 mil 0.25-254 µm Thru-hole Cu: 0.05-4 mil 1-102 µm

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