多機能X線吸収分光計

国家創科儀多機能X線吸収分光計スーパーXAFS M9000

コアパラメータ

1.エネルギー範囲：4.5-20 keV、25 kevにアップグレード可能

2.サンプルにおける光束：≧4×10⁶光子/秒 @ 7-9 keV

3.エネルギー分解能：0.5-1.5eV@7-9 keV

4.エネルギー繰返し性：≦30meV@24h

5.調整機構精度：エネルギー走査最小ステップ長0.1 eV

動作モード

1.近辺クイックスキャン機能をサポートする。

2.透過/蛍光モード吸収スペクトル、発光スペクトルをサポートする。

機能の概要

1.多サンプル自動採取をカスタマイズし、注入回数を減らす。

2.標本データベースを提供し、ユーザー分析を簡略化する。

3.その場でのシーンカスタマイズをサポートし、吸収スペクトル専門データ解析指導を提供する。

国家創科儀多機能X線吸収分光計スーパーXAFS M9000

X線吸収微細構造分光器（XAFS/XES）は材料の局所構造と電子状態を研究するための非破壊技術である。この技術はX線と物質の相互作用を利用して、指定された元素の近辺吸収スペクトル（XANES）、拡張遠辺吸収スペクトル（EXAFS）と特定のバンド発光スペクトルを取得し、それぞれ元素の化学状態と原子価状態、原子周囲の局所環境の配位構造を分析し、測定元素の配位原子の種類を識別するために使用し、結晶状態と非晶質材料のミクロ配位構造を特徴づける重要な手段である。XAFS/XESは主に触媒、合金、セラミックス、環境汚染物、各種結晶状態と非晶質材料及び生物サンプル内の金属イオンの原子価状態、配位構造及び電子状態分析、及び材料の局所構造の熱場、光場、電場と磁場変化下の局所構造の動的発展過程の研究などに応用される。