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mini温度制御プローブ台

ネゴシエーション可能更新10/11
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概要

その場電気学試験プラットフォームは、半導体材料、デバイスの温度変化下の電気学試験に適しており、設計はコンパクトで、携帯集積顕微、スペクトルシステムに適している。

製品詳細

温度範囲-190℃~600℃、RT ~ 1000℃温度安定性±0.05℃雰囲気保護、真空試料領域28 x 30 mmプローブ数4個の電気学継手BNC三同軸BNCオプションメサ電位電気接地三同軸背電極オプション適合光学機器顕微鏡分光器強誘電体電気化学ワークステーション磁場電気源表半導体分析器DLTS