金相顕微鏡SC-50 M

金相顕微鏡SC-50 M

科学研究レベル微分干渉DIC金相顕微鏡、2 Kスクリーン導電粒子圧痕検出金相顕微鏡

新しいSC-50 M研究級の金相顕微鏡は、外観から性能まで国際的な設計風向に追随し、工業分野の新しい枠組みの開拓に力を入れている。SC-50 Mは絶えず超越したブランド設計理念を模索し、顧客に完備した工業検査ソリューションを提供する

マルチレンジ分光比観察ヘッド設計

新しいSC-50 Mシリーズの観察筒は、ワイドビームイメージングシステム設計を採用し、26.5 mmリードの超ワイドビューをサポートし、新しい大視野体験をもたらします。2段式正像ヒンジ3眼観察筒は、試料の移動方向が接眼レンズで観察した方向と一致することを保証し、操作をより適切にする。

三段式ヒンジ三眼観察筒は、イメージング光線を二眼観察または三眼撮影に用いた上で、二眼観察に20%のギアを追加し、顕微撮影に80%使用し、ユーザーが同時に鏡下画像とビデオ画像を比較観察するのに便利である、

偏光システム

偏光システムは偏光発生器と偏光検出器を含み、偏光検出を行うことができ、半導体とPCB検出において、迷光を除去することができ、詳細はより明確である。偏光子には固定式偏光子と360度回転式偏光子がある。360°回転式偏光検出器は、標本を移動させることなく、異なる偏光角度光線下で標本が現れる状態を容易に観察することができる。偏光システムに舜宇が新たに開発した微分干渉器をロードし、ノルマルスキー微分干渉ライニングシステムを構築することができる。

ノルマルスキー微分干渉ライニング比システム

新たに開発されたU-DICR微分干渉モジュールは、明場観察では検出できない微細な高低差を、高コントラストの明暗差に変換し、LCD導電粒子、精密ディスク表面スクラッチなどの立体レリーフ形式で表現することができる。