低温走査プローブ顕微鏡

HR-AFM低温走査プローブ顕微鏡専門級の原子間力顕微鏡であり、Z軸騒音は35ピコメートル未満である。この装置は試料の内部構造を破壊することなく試料の微小領域の3次元形態と多相構造を観測することができ、同時にサンプル表面の物理化学特性を研究し、数値測定と分析することができる。

国内生産HR-AFM原子間力顕微鏡

標準動作モード：タップモード（Vibration mode）、接触モード（Contact mode）、位相イメージングモード（Phase imaging）、横力モード（LFM）、力曲線試験（Force Curve）、ナノ操作（Nanomanipulation）、ナノエッチング（Nanolithography）、力行列モード（Force Mapping）、摩擦力試験（Friction Mode）

オプションの動作モード：導電性原子間力顕微鏡（C-AFM）、磁気力顕微鏡（MFM）、静電力顕微鏡（EFM）、走査電位顕微鏡（SKPM）。

低温走査プローブ顕微鏡ソフトウェア自動針送り機能を備えている。ソフトウェア制御Z方向モータによるプローブ自動針送り

X，Y，Zの3軸分離スキャナ。

走査範囲100×100×17μm

Z軸分解能0.035 nm

サンプル台寸法：25 mm*25 mm*18 mm

操作ソフトウェア：Laview環境言語制御を使用して、無料で操作ソフトウェアを提供し、メンテナンスとアップグレードを提供する

Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWAREデータ解析システムを提供する

トップビューシステムの光学分解能≦2ミクロン

視野範囲は2 mm*2 mmから300 um*300 umまで調整可能、拡大倍率は45倍から400倍まで機械的に調整可能

システムを側面視して、可視化針を提供して、コンピュータを通じて針を下ろす過程を精密に観察制御することができて、針を打つことを防止する