lecoグロースペクトル

lecoグロースペクトルグロー放電イオン源と二重焦点高分解能質量分析器を結合し、固体サンプル中のC、N、Oを含むほぼすべての元素を定性的に定量的に分析することができ、高純度サンプル雑誌の含有量とめっき材料元素の組成を直接、迅速に分析することができるツールを使用します。

lecoグロースペクトル固体中の高級高純度材料の直接分析のための新しい基準を定義する。校正とサンプル調製操作を大幅に減少させることにより、サンプル処理量を高め、超低検査限界を達成することができ、それによりGD-MSを全体の金属分析と深さ分析応用に適合させることができる。
セラミックスおよび他のいくつかの非導電性粉末は、二次電極法を用いて分析され、同じレベルの感度とデータ品質を提供する。これにより、GD-MSは微量金属分析の信頼できる標準的な方法となった。
固体サンプル中に存在するほとんどの元素は通常の検出と定量が可能である：多くの元素の含有量は10億分率（ppb）レベル未満である。
µsパルス式高流速グロー放電池
パルス放電モードを用いた高感度イオン源
広範囲に調整可能なスパッタリング速度は、迅速な全体分析と高度な深さ分析への応用に適している
二次電極を用いたアルミナ粉末分析
ダブルフォーカス質量分析計
高いイオン伝送率と低い背景により、信号対雑音比がサブppbレベルの検出限界に達することができる
高品質解像度はzuiの高いレベルの選択性と精度を提供する：Yes*の分析結果の前提条件
12桁の自動検出システム
1回の分析で基体と超微量元素を測定し、全自動検出器は12桁の動的線形範囲をカバーする
基体元素IBR（イオンビーム比）の直接定量測定
効率的で使いやすいパッケージ
すべてのパラメータはコンピュータによって制御されます
全自動チューニング、分析、データ評価
自動LIMS接続性
遠隔制御と診断
ウィンドウズ 7
サンプル回転時間は通常10分未満
一次分析でマトリックス元素から超微量元素を測定することができる
深さプロファイリングは数百マイクロメートルから1ナノメートルの層厚をカバーする
基体効果を小さくし、直接定量を容易にする