レーザ線酸素分析装置

レーザ線酸素分析装置パラメータ:

変調半導体レーザ吸収分光法（TDLAS）技術は、レーザエネルギーがガス分子によって「周波数選択」吸収されて吸収スペクトルを形成する原理を利用してガス濃度を測定する。半導体レーザは特定の波長のレーザビーム（被測定ガスのみで吸収可能）を放出し、被測定ガスを通過する際のレーザ強度の減衰は被測定ガスの濃度と一定の関数関係にあるため、レーザ強度減衰情報を測定することで被測定ガスの濃度を分析して得ることができる。

光強度の大きさが⺐⼊（ν（t））のレーザ光が被検出ガスを通過すると、ガスは光を吸収する。異なる物質はある周波数の光を吸収し、長さLの光路を通過すると、出力光強度I（ν（t）））は式で表される

ランベルトビルの法則が成立する条件は、入射光が平行単色の特徴を持つため、単色性の良いレーザ、測定するガスは均一な媒体でなければならず、散乱が大きすぎて実際の値を理論値から遠ざけることはできない。測定対象物質の濃度は高すぎることはできず、物質濃度が高すぎると実際の値が理論値から遠ざかることもある。

13100 cm−1（すなわち763 nm）付近の領域にはO 2吸収線のみが存在し、他の吸収線干渉は存在しない。これにより、実験的に測定された吸収ピークがO 2吸収ピークであることを確実にすることができる。