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住所
上海市長寧区金鐘路633号晨訊科技広場A棟401室
製品分類
Shengke Instrument (Shanghai) Co., Ltd
概要
クルトナノ粒子計は電気的粒子分析技術であり、動的光散乱（DLS）、ナノ粒子追跡分析（NTA）またはナノスケールフローサイトメトリー（nanoFCM）などの光散乱に基づく一般的な方法とは根本的に異なる。マイクロフローパルス抵抗クルトナノ粒子計はMRPS技術を採用し、従来の光学方法では得られなかった新しい視点と新しい知見を提供した。MRPSはナノスケール上で最も直接的な寸法及び濃度測定−試料の多分散性又は屈折率に依存しない真の粒子寸法を提供する。
製品詳細
クルトナノ粒度計サイズ、濃度、貨物を単粒子蛍光により定量した。
動作原理：
SpectradyneのARCTM粒子分析器はMRPSと単粒子蛍光同期測定を結合し、様々な新しい科学を可能にした。
クルトナノ粒度計装置特徴：
粒子径：50 nmから10ミクロン
濃度範囲：約104,1012顆粒/mL
励起レーザ波長：488 nm
単一粒子のカウントとサイズ
高解像度寸法分布
最大粒子状物質検出率：約10000粒子／秒
任意の材料タイプを測定できます（透明、不透明、導電、絶縁）
メサの床面積が小さい
オプションの各種仕様チップ：
応用分野：
