日置絶縁抵抗テスタST 5680

日置絶縁抵抗テスタST 5680

特徴

直流耐圧絶縁抵抗試験器ST 5680

電池の安全試験はより最適な検査方案を提供し、波形分析を通じて電池の検査品質を向上させる

絶縁性能を正確に検査し、電池とモーターの品質を検証する

波形と数値表示による生産工程の最適化、回収された不良製品の分析、宣伝検査の信頼性

誤審による再測定の防止

幅広い国際標準をサポートしています。BDV（絶縁破壊電圧）測定機能を搭載。

波形と数値を用いた絶縁性能の検証【波形表示機能】

ST 5680は、様々な安全基準に基づいて直流耐圧試験及び絶縁抵抗試験を行うことができるテスタである。

PASS/FAILの合否判定だけでなく、試験時の出力電圧波形やリーク電流波形を表示、記録することもできます。

テストを視覚化して分析し、検査の追跡を支援します。

出力電圧とリーク電流を波形で表示

試験時の出力電圧やリーク電流の動きを波形で確認することができる。

パソコンを使わずに波形拡大表示などの操作ができ、現場で詳細な分析ができる。

波形表示の利点

生産工程の最適化に役立つ

検査時の波形を分析することにより、生産工程における不良要素を推定することができる。不良要素を究明し、生産工程を最適化することにより、生産効率を高めることができる。

回収された不良品の分析に役立つ

回収された不適合品を出荷時の波形と比較することができる。合格品の判定基準を最適化することにより、生産品質をさらに向上させる。

検査の信頼性を宣伝するのに役立つ

アーク放電による微小故障品の流出防止[【アーク放電検出機能】

溶接バリや粉塵異物などの原因で発生するアーク放電を検出することができる。

軽微な絶縁不良を引き起こした製品を微小故障品と判断することで、出荷後の発熱原因による火災事故や故障などのリスクを防止することができる。

誤審による再測定防止【接触検査機能】

端子間の容量（浮遊容量、被測定物の容量）を測定することにより、検出対象が正しく接続されているか否かを判断することができる。

不合格品を合格品と誤審することを防止する

・試験中に試験線が脱落した場合

・試験部位間抵抗が増加した場合

例：試験線の劣化、治具又は高圧リレーの劣化等

・両端子による簡単な配線が可能

電池、電機、電子部品などの耐圧試験に適用する

ST 5680は、被験者に高電圧を出力し、絶縁性能を試験するテスターである。電子機器、電子部品、材料などの研究開発から生産ラインまでの幅広い対象に対して安全試験を行うことができる。電池では、電池モジュール、電池パック、電気コアの電極とハウジング間の耐圧試験に使用されます。

出力電圧Max.8 kV、出力電流Max.20 mA

試験対象のリーク電流を測定して絶縁性を評価する直流耐圧試験モードと、抵抗値を測定して絶縁性を評価する絶縁抵抗試験モードを装備している。

直流耐圧試験では、最大8 kVの出力が可能である。試験対象に容量成分が含まれていても、20 mAの大容量出力で試験対象を高速充電することができ、検査タクトを短縮することができる。

容量成分を考慮せずに試験を行うことができる

また、遅延時間の設定に合わせることで、充電電流が流れる時間を判断せずに誤審を防止することもできる。

※測定可能な最大静電容量値200 nF（より大きな容量値を測定すると測定時間が長くなったり、測定値のばらつきが大きくなったりする可能性があります。 ）

最小分解能0.001μAの高精度判定

電池やモータなどの絶縁性能の向上に伴い、耐圧試験の合否を判断する電流値の設定要求も高くなり、より小さな電流に設定することが求められている。低解像度の耐圧テスタを使用すると、リーク電流の測定値を正確に測定することができない。ST 5680は最小解像度0.001 uAの高精度仕様を実現しているため、微小なリーク電流を正確に測定し、合否を判断することができる。

BDV（絶縁破壊電圧）測定機能搭載

出力電圧を一定速度で上げ、絶縁破壊時の電圧に達することを確認する。

試験方法は標準的に規定されており、連続昇圧試験と段階的昇圧試験がある。

ST 5680の両方のテストを実施することができます。電池開発時の性能評価（絶縁耐力評価）に使用できる。

日置絶縁抵抗テスタST 5680

基本パラメータ（精度保証期間1年）

主な機能直流耐圧試験、絶縁抵抗試験、絶縁破壊電圧試験、波形表示機能、ARC放電検出機能、

接触検査機能（詳細は「各試験・機能」表参照）

機能一覧インターロック、自動放電、オフセット除去、瞬時出力、コマンドモニタ、I/O HANDLER、

自己検査、校正期限検出、EXT SW（遠隔制御）

温湿度範囲0°C～40°C、80%RH以下（結露なし）を使用

標準セキュリティに適合：IEC 61010

電磁互換性：IEC 61326

電源電圧AC 100 V～240 V

消費電力約180 VA※

負荷電流5 mA負荷抵抗500 kΩ）の場合。

最大定格電力800 VA

インターフェース通信：USB、LAN、EXT.I/O

オプション：RS-232 C（Z 3001）、GP-IB（Z 3000）

ストレージ：Uディスク

サイズ・重量305（W）×142（H）×430（D）mm（突起物を含まない）

10.0 kg±0.2 kg

付属品電源ケーブル、CD-ROM（PDF：取扱説明書、通信取扱説明書）、EXT.I/O用オスコネクタ、

各テスト・機能

直流耐圧試験出力電圧：DC 0.010 kV～8.000 kV（1 V分解能）

出力設定精度：±（1.2%of setting+20 V）

出力電流/遮断電流：20 mA max

電流精度（*1）：3.00 mA＜：±（1.5%rdg.＋2μA）≦3.00 mA：±1.5%rdg.

最小分解能：0.001μA

試験時間：0.1 s～999 s、Continue（Timer OFF）

電圧上昇／降下時間：0.1 s〜300 s／0.1 s〜300 s、OFF

短絡電流200 mA以上

絶縁抵抗試験出力電圧：DC 10 V～2000 V（1 V分解能）

出力設定精度：±（1.2%of setting+20 V）

抵抗値表示範囲：100.00 kΩ～200.0 GΩ（0.01 kΩ解像度）

精度保証範囲：100.00 kΩ～99.99 GΩ

抵抗精度：±（1.5%rdg.+3 dgt.）*詳細は下記表参照

試験時間：0.1 s～999 s、Continue（Timer OFF）

電圧上昇／降下時間：0.1 s〜300 s／0.1 s〜300 s、OFF

絶縁破壊電圧試験方法：連続昇圧試験、段階的昇圧試験

測定内容：絶縁破壊電圧（kV）、絶縁破壊の強度（kV/mm）

設定内容：初期電圧、終了電圧、昇圧速度、ARC検出、電極間距離、電流上限値

波形表示機能波形表示内容：電圧、電流、絶縁抵抗

サンプリング速度：500 kS/s

メモリ容量：512 K words

設定内容：試験電圧変動率1%～50%

記憶機能・波形・図形

USBディスクに保存

保存形式：BMP、PNG、CSVファイル

・パネル保存機能

試験条件をホストメモリに保存する

直流耐圧試験モード/絶縁抵抗試験モード：最大64個

プログラムテスト：最大30（最大50ステップ）

絶縁破壊電圧試験：最大10個

測定値はメモリに保存され、最大32,000個

判定機能（判定出力）はPASSと判定し、FAIL（UPPER FAIL，LOWER FAIL）と判定する

UPPER _ FAIL：測定値＞上限値

PASS：上限値≧測定値≧下限値

LOWER _ FAIL：測定値＜下限値

注（*1）周囲温度tが5℃未満の場合は±（1%rdg.×（5-t）を加算）

周囲温度tが35℃を超えた場合±（1%rdg.×（t-35）を加算）

絶縁抵抗測定精度（*2）（精度保証試験電圧範囲：50 V～2000 V）

試験範囲100 kΩ～99.99 GΩ

10 nA ≤ I ≤ 3 μA100 MΩ ～ 999.9 MΩ

1.00 GΩ ～ 99.99 GΩ±(20% rdg.)

100 nA ≤ I ≤ 30 μA10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ

100.0 MΩ～999.9 MΩ±（5%抵抗）

1μA≤I≤300μA1.000 MΩ～9.99 MΩ

10.00 MΩ～99.99 MΩ±（2%相対湿度+5 dgt.）

10μA≤I≤3 mA100.0 kΩ～999.9 kΩ

1.000 MΩ～9.99 MΩ±（1.5%乾重＋3乾重）

100μA≦I≦20 mA 100.0 kΩ〜999.9 kΩ±（1.5%抵抗＋3 dgt.）

メモ（*2）

・試験電圧が50 V〜99 Vの場合、測定精度は±10%加算

・試験電圧が100 V〜999 Vの場合、測定精度は±5%加算

・試験電圧が1000 V〜2000 Vの場合、測定精度は±2%加算

・周囲温度tが5℃未満の場合、測定電流I<100 nA:±（5%rdg.×（5-t））を加え、

あるいは測定電流I≧100 nA：±（1%rdg.×（5-t）を加える）

・周囲温度tが35℃を超える場合、測定電流I<100 nA:±（5%rdg.×（t-35））を加え、

あるいは測定電流I≧100 nA：±（1%rdg.×（t-35）を加える）

・測定速度がFAST 2の場合、測定精度が倍になる