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中国上海市徐匯区零陵路599号愛謙ビル707室
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- Nano observer電気原子間力顕微鏡
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- カソード蛍光イメージング分光検出システム
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- フリーサーフェス3 Dファセット検出器
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上海納騰計器有限公司
概要
その場AFM in SEM
製品詳細
LiteScope™独自の走査プローブ顕微鏡（SPM）、各種走査電子顕微鏡（SEM)を開きます。コンプリメンタリSPMとSEM技術の結合（CPEM）表面形態、機械的性質、電気的性質、化学成分、磁気的性質などの特徴を含む複雑なサンプル分析を行うことができる。フォーカスイオンビーム（FIB）又はガス注入システム(GIS）ナノメートル用/微細構造の製造及び表面改質は、組立構造の迅速かつ簡単な3Dチェックします。同時に、SPMとSEM
