高分解能マイクロナノ工業CT−光線源0.4µ ;m

ネゴシエーション可能更新05/06

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概要

高分解能マイクロナノ工業CT−光線源0.4m EasyTom XLはワークに対して高解像度内部可視化と測定分析を行うことができ、160 KV＆マイクロメートル焦点230 KV二光線源のステップインキャビネット設計は、引張、圧縮、曲げ、温度試験の原位置装置を搭載することができ、スキャン体積は直径600 mm、高さ720 mmで、分別率は0.4μmと低く、大サイズ部品に適している。

製品詳細

高分解能マイクロナノ工業CT-光線源0.4µm EasyTom XL/製品概要

試験特性：寸法測定、材料特性評価、欠陥分析、内部構造の非破壊検査

適用分野：工業部品

ワークに対して高解像度内部可視化と測定分析を行うことができ、160 KV＆ミクロン焦点230 KV二光線源のステッピングキャビネット設計は、引張、圧縮、曲げ、温度試験の原位置装置を搭載することができ、スキャン体積は直径600 mm、高さ720 mm、解像度は0.4μmと低く、大サイズの部品に適している。

高分解能マイクロナノ工業CT−光線源0.4µmEasyTom XL/製品特長

リアルタイム高解像度2 Dデジタル放射線イメージング

マイクロメートル版またはナノ版、および組合せ版を提供する

ボクセル解像度が350 mm/ボクセルと低い

さまざまなアプリケーションや製品分析に適した多様な機能

測定体積が大きい（直径x高さ：320 mmx 720 mm）

insituマイクロCTが可能

プログラマブル自動制御サイクル

プログラム可能な自動制御サイクルを有するオープン統合システム

技術仕様

じくすう	4
zui大SDD	610 mm
そういんたいせき	Ø180×400mm
zui大サンプル重量	5kg
装置の重量	1020 kg
放射線源の数	1つ
がいぶすんぽう	1430×900×1870mm(W×D×H)
ふく射安全	高度なX線遮蔽キャビネット統合保護（設備表面のどこからでも放射線量<0.5µSv/時間）
ソフトウェア	すべてのデバイスはRX Solutions独自のX-Actソフトウェアによって制御されます
機械システム	高級光学ハニカムパン板構造、CTスキャンの安定性花崗岩台座を確保し、温度安定性と良好な減衰性能を確保する
フラットパネルプローブ	画素行列1920 x 1536、画素ピッチ127µm、サイズ25×20 cm 画素行列2048 x 2560、画素ピッチ124µm、サイズ32×25 cm
カメラ検出器（オプション）	画素行列4008 x 2672、画素ピッチ9µm、サイズ36×24 mm
X線管（オプション）	閉鎖管：zui大電圧110ミクロン、zui大出力16 W、zui大解像度2µm 閉鎖管：zui大電圧130ミクロン、zui大出力39 W、zui大解像度5µm 閉鎖管：zui大電圧150ミクロン、zui大出力75 W、zui大解像度5µm

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