ハイエンドマイコン制御万能引張力試験機

マイコン制御電子万能試験機
型番：FBS-50 KNW




画像は参考にして、実物を基準にして


設備の主な機能
本機は金属及び非金属（複合材料を含む）の引張、圧縮、曲げ、せん断、はく離、引裂、保載、弛緩、往復などの項の静力学性能試験分析研究に用いられ、最大力、引張強度、曲げ強度、圧縮強度、弾性率、破断伸び率、降伏強度などのパラメータを求めることができる。ReH、ReL、Rp 0.2、Fm、Rt 0.5、Rt 0.6、Rt 0.65、Rt 0.7、Rm、Eなどの試験パラメータを自動的に求めることができ、GB、ISO、DIN、ASTM、JISなどの国内、国際関連規格に基づいて試験し、データを提供することができる。

設備の主な構成：
FBS-50 KNWマイコン制御電子万能試験機は電気機械一体化製品であり、主にホスト（ラック、シャーシ、伝動システムを含む）、治具、変形測定システム、ソフトウェアシステム、電気システムから構成される。

パフォーマンスの特長
（一）機械工芸構造：
メインフレームは主に台座、4本の支柱と1本のねじで単腕フレーム構造を構成し、伝動荷重システムは交流サーボモータと同期歯形ベルト減速装置を採用し、高精密ボールねじの回転を駆動し、さらに移動梁を駆動して荷重を実現する。本機は造形が美しく、安定性がよく、剛性が大きく、制御精度が高く、作業効率が高く、騒音が低く、省エネで環境に優しい。

（二）制御及び測定システム：
本機は先進的なTest 4.0全デジタル閉ループ制御システムを用いて制御と測定を行い、コンピュータを用いて試験過程と試験曲線の動態表示を行い、そしてデータ処理を行う。試験終了後、グラフ処理モジュールを通じて曲線増幅に対してデータの再分析編集を行うことができ、性能は国際先進レベルに達する。

1.専用の変位、変形、速度閉ループ制御を実現する。
試験過程において、試験案をより柔軟に、より充実させるために、試験速度及び試験方法を柔軟に変更することができる、
1.1多層保護：ソフトウェアとハードウェアの2級保護機能を有し、試験機に対する過負荷、過電流、過電圧、不足電圧、過速度、制限などの多種の安全保護方式を実現することができる、
1.2路高速24ビットA/D変換通路、有効コード値の解像度は最高±30万分の1に達することができ、内外無段階を実現し、かつ全過程の解像度は不変である、
1.3 232或いはシリアル通信を採用し、データ伝送が安定で信頼性があり、耐干渉能力が強い、
1.4 3ウェイパルス信号捕捉チャネル（3ウェイパルス信号はそれぞれ1ウェイ変位と2ウェイ大変形信号）を採用し、そして現在最先端の4倍化技術を採用し、有効パルス数を4倍に増幅し、信号の解像度を大幅に高め、最高捕捉周波数は5 MHzである、
1.5サーボモータデジタル駆動信号、PWM出力の最高周波数は5 MHz、最低0.01 Hzである。

2.※制御及び測定システムの技術的利点：
2.1 Test 4.0全デジタル閉ループ制御システム
Test 4.0全デジタル閉ループ制御システムは当社が最新に開発した次世代試験機専門制御システムであり、現在国際で最も先進的なサーボモータ専門制御チップと多チャンネルデータ収集処理モジュールを採用し、システムサンプリングの一致性と高速で有効な制御機能を保証し、システムの先進性を確保した。システム設計にはできるだけハードウェアモジュールを使用し、製品の安定性と信頼性を保証した。
2.2効率的で専門的な制御プラットフォーム
Test 4.0は自動制御専用のICであり、内部はDSP+MCUの組み合わせである。DSPの演算速度が速く、MCUのI/Oポート制御能力が高いという利点が統合されており、その全体的な性能は単純なDSPや32ビットモノリシックより明らかに優れている。内部には、PWM、QEIなどのハードウェアのモータ制御に必要なモジュールが統合されています。システムの重要な性能を完全にハードウェアモジュールに保証させ、システムの安全で安定した運行を保証した。

3.ハードウェアベースのパラレルサンプリングモード
本システムのもう1つのハイライトは、専用ASICチップを採用していることです。ASICチップを通じて試験機の各センサ信号を同期して収集することができ、国内で初めてハードウェアを基礎とした並列サンプリングモードを実現させ、従来の各センサチャネルの時分割サンプリングによる荷重と変形の非同期の問題を回避した。

4.位置パルス信号ハードウェアフィルタ機能
光電エンコーダ位置捕捉モジュールは専用ハードウェアモジュールを採用し、24段フィルタを内蔵し、捕捉したパルス信号に整形フィルタリングを行い、位置パルス捕捉システムが干渉パルスの出現による誤算カウントを回避し、より効果的に位置精度を保証し、位置パルス捕捉システムを安定で信頼性のある動作にすることができる。

5.制御機能の基盤実装
専用ASICチップはサンプリング、状態監視などの一連の周辺作業を分担し、通信などの関連作業は内部ハードウェアモジュールによって実現されるので、DSCはPID計算などの本体作業の制御に集中でき、より信頼性が高いだけでなく、制御の応答速度がより速く、それによって私たちのシステムは制御ボードの最下層演算によってPID調整と制御出力を完成させ、本当に閉ループ制御がシステムの下層で完成することを実現した。

6.※Test4.0ソフトウェアの性能特徴：
ユーザーインタフェースはWindows 98、Windows Me、Windows XPをサポートし、リアルタイム曲線の表示と処理、図形画像化、ソフトウェア構造のモジュール化、データの記憶と処理はMS-ACCESデータベースに基づいて、OFFICEなどのオフィスソフトウェアと接続しやすい。
6.1.ユーザ権限階層管理モデル
ユーザーがログインすると、システムはその権限に応じて適切な操作機能モジュールを開放する。スーパー管理者は最高権限を持ち、ユーザー権限管理を行い、異なるオペレータに異なる操作モジュールを許可することができる。
6.2.強力な試験管理機能を持ち、試験単位は必要に応じて任意に設定することができる。
異なる基準に基づいて相応の試験案を編集することができ、試験時に相応の試験案を選択すれば、基準要求に基づいて試験を完了し、基準要求を満たす試験報告書を出力することができる。試験過程及び設備状態はリアルタイムに表示され、例えば：設備運転状態、プログラム制御運転ステップ、延伸計の切り替えが完了したかどうかなど。
6.3.強力な曲線解析機能
荷重-変形、荷重-時間などの複数のカーブを選択し、1つ以上をリアルタイムで表示することができます。同じグループの試料の曲線は異なる色を用いて反復的にコントラストを加え、曲線を遍歴することができ、試験曲線上の任意のセグメントは局所的な拡大分析を行うことができ、また試験曲線上に各特徴点を表示し、表示することを支持し、曲線上で自動的にまたは手動で点を取ってコントラスト分析を行うことができ、特徴点を表示した曲線は試験報告書に印刷出力することもできる。
6.4.試験データを自動的に保存し、不測の事態による試験データの紛失を避ける。
試験データのファジィ検索機能を有し、異なる条件に基づいて完成した試験データと結果を迅速に検索し、試験結果の再現を実現し、また異なる時間あるいはロットで行った同じ試験案のデータを統合して開き、比較分析を行うことができる。データバックアップ機能により、以前に保存されていたデータを別途保存して表示することもできます。
6.5.MS-ACCESSデータベース保存フォーマットとソフトウェアの拡張能力
Test 4.0ソフトウェアの核心はMS-ACCESSデータベースに基づいており、Officeオフィスソフトウェアとインタフェースし、レポートをWORD形式またはEXCEL形式に格納することができる、また、オリジナルデータを開放することができ、ユーザーはデータベースを通じてオリジナルデータを調べることができ、材料研究に便利で、測定データの効果を十分に発揮することができる。
6.6.引張計を追加すると、ReH、ReL、Rp 0.2、Fm、Rt 0.5、Rt 0.6、Rt 0.65、Rt 0.7、Rm、Eなどの試験パラメータを自動的に求めることができ、パラメータは自由に設定でき、作成した図形を印刷することができる。

7.降伏後の引伸計除去機能を設定可能
Test 4.0ソフトウェアは自動的に判断し、試料の降伏が終わった後に変形を変位収集に切り替え、情報欄で「変形切替が終わったら、伸度計を取り除くことができる」とユーザーに注意した。
7.1自動復帰：ビームを移動すると自動的に試験初期位置に戻ることができる。
7.2自動校正：負荷、伸びは加えた基準値に基づいて自動的に校正することができる。

8.レンジモード：全レンジ無シフト
8.1）モジュールユニット：多種の付属品は柔軟に交換し、モジュール化された電気ハードウェアは機能拡張と修理を容易にする、
8.2）自動切替：試験中に表示曲線は試験力と変形量の大きさに基づいて自動的にレンジを変換する。



9.1）試験機標準：GB/T 16491-1996電子万能試験機、
9.2）要求される試験方法基準：GB/T 228-2010、GB/T 14452-93、GB/T 7314-2005。お客様の要件に応じて、他の適切な基準（5つ未満）を選択することもできます。



6、設備配置