ドイツのフィッシャーXDLM 237蛍光線膜厚計

製品の説明

FISCHERSCOPE X-RAY XDL XDLMシリーズとXULXUUMの比較：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL XDLMシリーズはXULXUUMシリーズと密接に関連している：どちらも同じ受信機、コリメータ、フィルタの組み合わせを使用している。標準的なX線管と固定コリメータを搭載したXDL機器は、大きなワークの測定に最適です。XDLMモデルのX線源はマイクロ集束管を採用し、細かい部品を測定でき、低放射成分に対して比較的に良い励起作用がある。また、XDLMには自動切り替え可能なコリメータと複数のフィルタが搭載されており、異なる測定アプリケーションに対して柔軟に良好な励起条件を作成することができます。両モデルの機器には比例受信機検出器が搭載されている。非常に小さな測定点であっても、受信機の受信面積が大きいため、十分に高い計数率が得られ、良好な繰り返し精度を確保することができる。

XULとXUM機器を比較すると、XDLとXDLMシリーズ機器の測定方向は以下の通りである.上から下へ。これらは、モジュラー構造を使用した使いやすいデスクトップとして設計されています。つまり、さまざまなニーズに対応するために、シンプルなステープレート、さまざまなXYワークベンチ、Z軸を搭載することができます。プログラマブルXYワークベンチを搭載したバージョンのXDLシリーズ計器は、自動化されたシリーズテストに使用できます。表面を簡単にスキャンすることができ、均一性を確認することができます。サンプルを簡単に迅速に位置決めするために、測定ドアが開くと、XYテーブルは自動的にロード位置に移動し、同時にレーザーポイントは測定点位置を指示する。大きくて平らなサンプル、例えば配線板の場合、ケースは側面に開口部（C溝）がある。測定室の空間が大きく、サンプルの配置が便利なため、器具は平面的に平らな物体を測定することができるだけでなく、複雑な形状の大きなサンプルを測定することもできる（サンプルの高さは140 mmに達することができる）。Z軸は電動調整可能な機器であり、測定距離は0-80 mmの範囲内で自由に選択することができ、これによりキャビティ内部や表面が平らでない物体を測定することができる（DCM方法）。

製品型番：

•FISCHERSCOPEX-RAY XDL M 231蛍光めっき層厚測定器
•FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232 x線蛍光めっき層厚測定器
•FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237 x線蛍光めっき厚さ測定及び材料分析計

適用例：

XDLM測定システムは、コネクタとコンタクトの様々な基板上のAu/Ni、Au/PdNi/Ni、Ag/NiまたはSn/Niめっき層の厚さを測定するためにしばしば使用される。通常、リボンは先進的な突起や突起などの小さな構造であり、これらの領域を測定するには小さなコリメータやサンプルの形状に適したコリメータを使用する必要があります。例えば楕円形サンプルを測定する場合は、スロット付きコリメータを使用して*大きな信号強度を得る必要があります。

めっき液成分分析：Cu、Ni、Au（g/l）

PCB测量:Au/Ni/Cu/PCB

特徴：

。ガラス窓とタングステンターゲットを有するX線管またはベリリウム窓とタングステンターゲットを有するマイクロフォーカスX線管。*高作動条件：50 KV、50 W
。X線検出器は比例受信器を採用する
。コリメータ：固定または4つの自動切替、0.05 x 0.05 mmから00.3 mm
。基本フィルタ：固定または3つの自動切り替え
。測定距離は0～80 mmの範囲で調整可能
。サンプル支持台を固定し、手動XYテーブル
。カメラは、基本放射線の軸方向の測定位置を表示するために使用されます。目盛線はキャリブレーションを経て、実際の測定点の大きさを表示します。
。設計は許可を得て、防護は全面的で、ドイツX線条例第4章第3節に符合する

典型的な応用分野：

。大量量めっき部品の測定
。耐腐食性と装飾性のめっき層、例えばニッケルまたは銅上のクロムめっき
電気めっき業界のビル液分析
。薄金、白金、ニッケルめっき層などの配線板業界の戦略
。コネクタと接点のめっき層を測定する
。電子及び半導体業界の機能性めっき層測定
金、ジュエリー、時計業界