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篤心計器(上海)有限公司
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フィッシャーXDAL 237蛍光線めっき層厚計

交渉可能更新01/12
モデル
製造者の性質
プロデューサー
製品カテゴリー
原産地
概要
フィッシャーXDAL 237 X線蛍光測定器は、高速でプログラム可能なXYプラットフォームとZ軸を備えており、薄いコーティングの厚さを自動的に測定し、材料分析を行うことができる。
製品詳細

製品の説明


FISCHERSCOPE X−RAY XDAL型計器を用いてSnPb溶接層中の鉛含有量を測定することができる。この用途では、まず、Pbの含有量を分析するためにSnPbの厚さを正確に測定しなければならない。航空宇宙産業における高信頼性の要求に基づき、クラックの発生を避けるために、合金中のPbの含有量は少なくとも3%以上でなければならない。一方、日常的に使用されている電子製品については、RoHS指令の要求に基づいて、Pbの半田中の含有量*は1000 ppmを超えてはならない。XDAL測定Pb含有量の測定下限はSnPbめっき層の厚さに依存するが、通常、XDALの測定下限は十分に低く、上記の測定需要を容易に達成することができる。


モータ駆動(オプション)と上から下への測定方向により、XDLシリーズ測定器は自動化されたロット試験を行うことができる。X線源、フィルタ、コリメータ、検出器の異なる組み合わせの複数のモデルを提供し、それによって異なる測定ニーズに応じて適切なX線機器を選択することができる。設計上、FISCHERSCOPE XRAY XDAL型機器とXDLM型機器が対応している。違いは、使用する検出器のタイプが異なることです。XDALでは、パルプ冷却シリコンPIN検出器を使用して、XDLMで使用されるスケールカウンタのエネルギー分解能よりはるかに優れています。そのため、この計器は一般的な材料分析、微量元素分析及び薄いめっき層の厚さ測定に適している。



含铅量测试

PCB組立:鉛含有量試験

速钢钻头:TiN/Fe

高速鋼ドリル:TiN/Fe

在电子元器件中测量Pb含


信頼性が高い:電子部品におけるPb含有量の測定(>3%)

刀具检测

工具:TiN/Fe


プロパティ:

。X線蛍光器具は多種のハードウェアの組み合わせを装備することができ、各種の測定任務を遂行することができる。
。測定距離は調節できる(*80 mmまで大きい)ため、配置された部品をテストするのに適している。回路基板またはキャビティ構造の部品
。プログラマブルXYワークベンチとZ軸(オプション)による自動一括テスト
。高エネルギー分解能のシリコンドリフト検出器を使用して、超薄めっき層の測定に非常に適している(XDAL装置)

めっき層の厚さ測定:

。大型回路基板とフレキシブル回路基板上のめっき測定
。回路基板上の薄い導電層及び/又はスペーサ層
。複雑な幾何形状製品上のめっき層
。装飾性クロムめっき処理されたプラスチック製品などのクロムめっき層
。窒化クロム(CrN)、窒化チタン(TiN)または窒素炭化チタン(TiCN)などの硬質コーティングの厚さ測定

材料分析:

。めっき槽液分析
。電子及び半導体業界における機能性めっき層分析


適用例:

FISCHERSCOPE X−RAY XDAL型計器を用いてSnPb溶接層中の鉛含有量を測定することができる。この応用では、まずSnPbの含有量を分析するためにSnPbの厚さを正確に測定しなければならない。航空宇宙産業における高信頼性の要求に基づき、クラックの発生を避けるために、合金中のPbの含有量は少なくとも3%以上でなければならない。一方、日常的に使用されている電子製品については、RoHS指令の要求に基づいて、Pbの半田中の含有量*は1000 ppmを超えてはならないことが多い。XDALによるPb含有量の測定下限はSnPbめっき層の厚さに依存するが、通常、XDALの測定下限は十分に低く、上記の測定ニーズを容易に達成することができる。