FISCHERSCOPE XDV-SDD蛍光めっき層厚測定器

製品の説明

XDV-SDDは測定空間が広く、サンプルの配置が便利で、平らなサンプルを置くことができ、複雑な形状の大きなサンプルを置くこともできます。連続試験またはめっき層の厚さと元素分布の測定は、高速プログラマブルXYテーブルで簡単に行うことができます。操作は人間的で、測定ドアの開きが便利で、計器の前部制御パネルは多種の機能を備えており、日常使用が楽で便利である。

XDV-SDD型計器はFISCHER製品の中で高性能なX線蛍光計器の一つである。特に大きくなったシリコンドリフト検出器（SDD）を搭載しています。50 mm？のプローブウィンドウでは、迅速かつ正確に、さらには小面積の測定ポイントを測定できることを確認します。また、機器にはさまざまなフィルタが装備されており、異なる測定タスクに最適な励起条件を確立することができます。FISCHERSCOPE XRAY XDVSDD型計器は誘導領域が大きく、分解能が良好なシリコンドリフトレシーバを搭載しており、このように大コリメータを使用する場合、高い計数率を達成することができ、それによって良好な繰り返し精度と極めて低い検出下限を実現する。XDV−SDDは微量分析における超薄めっき層の測定に極めて適している。低エネルギー放射線の感度が向上するとともに、測定可能元素の範囲もより低原子番号の元素に拡大することで、空気中のリンやアルミニウムを確実に測定することができる。

適用例：

法律条例は、電子部品、おもちゃ、包装材料など、さまざまな有害物質の含有量を厳格に制限している。XDV-SDDにより、これらの制限に合致しているかどうかを迅速かつ容易に検出することが可能になります。例えば、検出限界が数ppmしかない特に重要な化学元素Pb、Hg、Cdなどを測定する。

アルミニウム合金中のPb，Cdなどの金属中の有害物質

おもちゃ：その中のPb、Cd、Hgを検査する

特徴：

。ベリリウム窓とタングステンパラジウムを備えたマイクロフォーカスX線管。*高作動条件：50 kv、50 W
。X線検出器はペルチェ冷却シリコンドリフト検出器を用いている
。コリメータ：4個、自動切り替え可能、直径0.1 mmから3 mmまで
。基本フィルタ：6個、自動的にポップアップ機能付きプログラマブルXYプラットフォームを切り替えることができる
。ビデオカメラは測定位置をリアルタイムで見ることができ、十字線にはキャリブレーションされたスケールがあり、測定点の実際のサイズも画像に表示されます。
。設計は許可を得て、防護は全面的で、ドイツX線条例第4章第3節に符合する

典型的な応用分野：

。電子や半導体業界などの超薄めっき層を測定する
。微量分析、例えばRoHS、玩具及び包材指令に従って有害物質を検出する
。高精度金と貴金属分析光起電力業界
。NiP層の厚さと成分を測定する