電子部品検査顕微鏡

ネゴシエーション可能更新05/06

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概要

電子部品検査顕微鏡$r$n拡大倍数：光学800倍拡大、電子8000倍拡大$r$n画素：200万画素無圧縮$r$n出力解像度：1920*1080 P$r$n出力方式：HDMIハイビジョンスクリーン$r$n機能：2 Kハイビジョン画像撮影/測定/録画/再生/保存、導出データ、テンプレートプリセット、CADテンプレート導入..$r$n使用分野：半導体チップ業界、金属表面分析、チップ整板観察

製品詳細

電子部品検査顕微鏡倍率：光学800倍増幅、電子8000倍増幅

ピクセル：200万ピクセル圧縮なし

出力解像度：1920*1080 P

出力方式：HDMIハイビジョン接続画面

機能：2 Kハイビジョン画像の撮影/測定/録画/再生/保存、データのエクスポート、テンプレートのプリセット、CADテンプレートのインポート。..

XJP-302/302 BD正置金相顕微鏡は不透明な物体の顕微鏡観察に適している。優れた無限遠光学系とモジュール化機能設計理念を採用し、システムを容易にアップグレードでき、偏光観察、暗場観察などの機能を実現でき、コンパクトで安定した高剛性主体で、顕微操作の防振要求を十分に体現している。人間工学の要求に合致する理想的な設計は、操作をより便利に快適にし、空間をより広いものにする。金相組織及び表面形態の顕微観察に適しており、金属学、鉱物学、精密工学研究の機器である。

电子元件检查显微镜

電子部品検査顕微鏡技術仕様：

接眼レンズ	大視野WF 10 X（視野数Φ22 mm）
むげんえんきへいめんちょくしょくしょくしょくそうぶつめんきょう	XJP-302 （配明場対物レンズ）		PL L 5 X/0.12動作距離：26.1 mm
			PL L 10 X/0.25動作距離：20.2 mm
			PL L 20 X/0.40動作距離：8.80 mm
			PL L 50 X/0.70動作距離：3.68 mm
			PL L 80 X/0.80動作距離：1.25 mm
	XJP-302BD （配明／暗場対物レンズ）		PL L 5 X/0.12 BD動作距離：8.05 mm
			PL L 10 X/0.25 BD動作距離：7.86 mm
			PL L 20 X/0.40 BD動作距離：7.23 mm
			PL L 50 X/0.70 BD動作距離：1.75 mm
			PL L 80 X/0.80 BD動作距離：0.80 mm
接眼鏡筒
落射照明システム	XJP-302	12 V 30 Wハロゲンランプ、輝度調整可能
	XJP-302BD	12 V 50 Wハロゲンランプ、輝度調整可能

フォーカシング機構	粗微動同軸焦点調整、ベルトロックとリミット装置、微動格子値：0.7μm
トランスフォーマー	五孔（インナボール内位置決め）
ステージ	機械式ステージ、外形寸法：280 mmX 270 mm、移動範囲：横（X）204 mm、縦（Y）204 mm

オプション：

名称	カテゴリ/技術パラメータ		備考
接眼レンズ	分割10 X（Φ22 mm）、格値0.1 mm/格
対物レンズ	PL L 40 X/0.60動作距離：3.98
	PL L 60 X/0.70作動距離2.08 mm
	PL L 100 X（乾式）/0.85作動距離0.4 mm
	PL L 40 X/0.60 BD動作距離3.0 mm	明、暗視野
	PL L 60 X/0.70 BD動作距離1.65 mm
	PL L 100 X/0.85 BD動作距離0.4 mm

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