エレクトロおよび磁歪効果試験器

【概要】

本計器プラットフォーム式マイケルソン干渉計に基づいて設計された、斬新な精密干渉機器である。器具は伝統的な干渉計の設計思想を参考にするだけでなく、高等大学の物理実験教育の需要に近づけるように努力し、教育、科学研究の分野での応用に適している。同時に、この計器はマイケルソン干渉計の応用を広げ、圧電セラミックス材料の電歪特性測定及び異なる材料の磁歪係数を研究することができ、光学応用実験或いは革新的な物理実験として適用することができる。

【実験目的】

1、マイケルソン干渉計の基本原理を理解する、

2、等傾斜干渉縞を観察する、

3、レーザー波長を測定する、

4、測定あつでんセラミックスの電歪特性；

5、異なる材料の磁歪特性を測定する。

【製品の主要技術指標】

1、一体型ヘリウムネオンレーザ：電力約1mW、波長632.8ナノメートル；

2、調整可能電源0-750V/2mA、解像度1V、精度0.5%；

3、移動ミラー粗動マイクロホイールインデックス値0.01 mm、移動範囲25mm；

4、移動鏡微動マイクロハンドルのインデックス値0.0001 mm、移動範囲0.25 mm；

5、ビームスプリッタ1だけ；

6、移動ミラー、参照ミラーの平面度はλ/20、レンズ径φ35、2 D調整ミラーフレームを含む、

7、モールドガラス観察スクリーン1だけ；

8、ていでんりゅうげん0～5A連続調整可能、