EM TEST VCS 500 N 10 Tサージ/通信サージ発生器

EM TEST VCS 500 N 10 Tサージ/通信サージ発生器

サージの発生は、直接または間接的な雷電撃における屋外回路に起因し、これは過渡的な高圧または大電流を引き起こす。サージ干渉の別のソースは、スイッチング干渉とシステム障害である。ほとんどの電子電気機器がサージの影響を受けることは、サージテストの必要性をより証明しています。サージ電圧は数千ボルトに達することができる、サージ電流は数千アンペアに達することができる。

次の基準を満たす
•EN 300386 V1.3.2
•EN 61000-4-5
•EN 61000-4-9
•IEC 60255-22-5
•IEC 61000-4-5
•IEC 61000-4-9
•IEC 61326
•IEC 61850-3
•ITU-T K.12
•ITU-T K.20
•ITU-T K.21
•ITU-T K.45

応用分野
•こうぎょう
•部品
•医療
•ほうそうテレビ
•通信
•家電製品