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上海納騰計器有限公司
概要
EM−AFM電子顕微鏡その場原子間力顕微鏡
製品詳細
EM-AFMは、SEMに原子間力顕微鏡イメージングとナノ機械測定を同時に提供する。この2つの技術の利点を統合し、高解像度の3次元画像を高速に得ることができ、マイクロナノメートルとサブナノメートルスケールでナノスケールの力の相互作用をリアルタイムで観察することができ、従来のSEM/FIBと互換性があり、EDS, EBSD, WSD互換性があります。
主な機能
EM-AFMは、SEMに原子間力顕微鏡イメージングとナノ機械測定を同時に提供する。この2つの技術の利点を統合し、形態スキャン、3Dイメージング、ナノインデンテーション/ナノ引張試験など。
l技術的特徴
同時取得AFMとSEMイメージング
メインストリーム走査電子顕微鏡と完全互換性
サンプル交換が簡単
超高分解能トポグラフィー走査
ナノインデンテーション法によるナノフォースの測定
操作安定性が高く、受けられないSEMビーム干渉
バキュームロック互換性
ぎじゅつりょく
三、応用
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