EBSD電子後方散乱回折計

光ファイバ結合は高感度をもたらす

オックスフォード計器 CMOS EBSDは光ファイバ結合光学系を採用し、入射光はレンズ絞りに制限されない。従来のレンズ結合と比較して、検出器の感度を大幅に向上させ、ペロブスカイト有機物などのスカンジウムフタルアザミの昼養唄精⬆夫靡流感受性材料のEBSD収集にも用いることができる。

高温スクリーン （オプション）

次世代高温スクリーン赤外光光学フィルター技術を採用し、高温による赤外バックグラウンドを効果的に濾過し、模様信号を保持することができる。

オールラウンド型 EBSD検出器

SymmetryS 3電子後方散乱回折検出器は、万能型Symmetry製品シリーズの第3世代検出器である。S 3は高速分析（>5700模様/秒）と各種の優れた機能を結合し、より優れた性能を確保し、各分野の科学研究の需要を満たす。

SymmetryS 3は、さまざまなタイプのサンプルから優れた結果を提供することを目的としたEBSD検出器です。レンズレス光ファイバ結合カメラシステムは、すべての分析条件の下で、優れた感度を実現し、東流感受性材料の分析から通常のサンプルまでの高速特性化を実現することができる。高画素解像度と保証されたサブ画素パターン歪みレベルを組み合わせて、S 3を歪み深化分析と高精度EBSD動作の理想的な選択にした。ソフトウェア制御の検出器傾斜機能により、各サイズと形状のサンプルを最適化された幾何学的位置で収集できることを確保した。

1244 x 1024ピクセルまでの日常的かつ高難度の分析に適した6種類のカメラモードで、解像度は156 x 128ピクセルであり、同時に解像度は5700パターン/秒である。

Symmetry S 3のスクリーン昇降制御。試料の大きさ、高低にかかわらず、プローブ先端は常に最適な収集位置に維持される

高分解能型 EBSD検出器

C-Nano+は優れたCMOS EBSD検出器で、百万画素解像度のEBSD模様を提供し、600模様/秒を超える分析速度を保証する。

これに加え、その光ファイバ光学系による高感度 C-Nano+は、セラミックスや鉱物を含む挑戦的な材料を高精度に分析するための理想的な選択肢となっている。

メガピクセル 1244 x 1024解像度模様、同時に収集速度は80模様/秒に達した：HR-EBSD研究及び詳細な歪み分析と相鑑定に非常に適した最大分析速度は600模様/秒に達し、解像度は312 x 256画素で、3 nAビーム流（鋼、Ni上

新世代 EBSDデータ処理ソフトウェア

標準構成：通常のEBSDデータ分析のニーズに対応

大多数 EBSDデータ分析には、さまざまな面分布図の描画、結晶粒サイズの統計、テクスチャの分析、粒界の表示、ひずみの研究など、従来のデータ処理が必要です。AZtecCrystal標準構成により、多様なデータ処理ニーズに対応する強力で便利なツールが提供されます。AZtecCrystalの処理速度は大幅に向上し、高速CMOS EBSD検出器で収集されたビッグデータの処理に最適です。初心者でも専門家でも、あなたは満足できる！

l超える 30種類の面分布図、無制限に組み合わせてカスタマイズして結晶粒サイズを測定でき、ISOとASTM標準を満たし、30種類を超える結晶粒パラメータを提供する

l完全なテクスチャ解析、極性図、逆極性図、配向分布関数を含む

l配向差解析と粒界長詳細統計表を含む粒界の包括的解析

l電子画像との関連解析、正面分布図の歪みを補正する