デュアル分光計システム

デュアル分光計システム（DualSpectrometer、DS）は2種類の異なるバンドを統合した分光器コアであり、Y光ファイバ機構を利用して、広いバンド範囲を持つ分光器を構成している。このシステムは顧客の特殊な帯域需要に基づいて構築することができ、最も広い帯域範囲は180-1700 nmに達することができ、UVからNIRまで一度に顧客の測定上の需要を満たすことができる。

データ科学デュアル分光計システム-各シリーズのUV/VIS+NIR分光器を組み合わせることができます：

1、選択した機種によって、解光最大範囲180 ~ 1700 nm

2、光学分解能：組立中の異なる入光スリット幅と凹面格子によって決まる

3、各種のセンサーは特定の応用ニーズに提供する：

高速、高感度、高解像度、バックライト

CCD、CMOS、InGaAs型センサ

4、カスタマイズモジュール素子、異なるラスタ、センサと入口スリット幅を選択可能

5、積分時間は0.2 ms ~ 65 secondから、異なるセンサ種別による

6、16 bit、15 MHz A/D変換器

7、USB 2.0@480 Mbps（高速）

8、8-pin拡張埠頭接続分光計と外部装置

6個のデジタル入力/出力資料による足位元の抽出

9、コンピュータ応用のPlug-n-Play中間面

10、超精密連続多重露光、最大4000筆のスペクトル資料を一時保存できる

11、Flash ROMストレージ

波長補正係数

せんけいほせいけいすう

強度補正係数

OtO超微光学は長期にわたりマイクロ電気機械（MEMS）を結合した精密光学技術の発展に集中しており、＊の熱動的平衡技術（Dynamic Thermal Equilibrium、DTE）、半導体マイクロ格子技術、＊の迷光解消演算法、連続高速露光モード、及び豊富なシステム統合経験を持っている。