鼎陽SIGLENT SDS 6204 H 12 Pro高解像度デジタルオシロスコープ

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概要：鼎陽SIGLENT SDS 6204 H 12 Pro高解像度デジタルオシロスコープ仕様パラメータ帯域幅2 GHzリアルタイムサンプリングレート10 GSa/sチャネル数4+EXT記憶深度500 Mpts/CH最高波形捕捉率750000 wfm/s（Sequenc…

製品詳細

鼎陽SIGLENT SDS 6204 H 12 Pro高解像度デジタルオシロスコープ仕様パラメータ
帯域幅	2 GHz
リアルタイムサンプリングレート	10 GSa/s
チャネル数	4 + EXT
きおくふかさ	500 Mpts/CH
最高波形捕捉率	750,000 wfm/s（Sequenceモード）
インタフェース	USB 3.0 Host x 2、USB 2.0 Host x 2、USB 2.0 Device、LAN、micro SDカード、HDMI, 外部トリガ入力、補助出力（TRIG OUT、PASS/FAIL）
そくてい	50種類を超えるパラメータ測定、ヒストグラムとトレンドグラフ統計をサポート
データ解析およびデータ処理ツール	検索、ナビゲーション、履歴、テンプレートテスト、デジタルマルチメータ、ポッターマップ、電源解析（オプション）、波形ヒストグラム、カウンタ、ジッタ、アイマップ解析（オプション）
スクリーン	12.1インチ静電容量タッチディスプレイ、解像度1280*800
トリガタイプ	エッジ（Edge）、スロープ（Slope）、パルス幅（Pulse width）、ウィンドウ（Window）、アンダー幅（Runt）、間隔（Interval）、タイムアウト（Dropout）、コード型（Pattern）、ビデオ（Video）、第Nエッジ、遅延、セットアップ／ホールド時間、シリアルトリガ
シリアルトリガとデコード（標準）	I2C, SPI, UART, CAN, LIN
シリアルトリガとデコード（オプション）	CAN FD, FlexRay, I2S, MIL-STD-1553B, SENT, Manchester
デジタルチャネル（オプション）	16ウェイ、500 MSa/sサンプリングレート、12.5 Mpts/chメモリ深度、
デジタルチャネル（オプション）	16ウェイ、1 GSa/sサンプリングレート、50 Mpts/chストレージ深度（2 GHz帯域幅モデル）
しんごうはっせいき	外付けシングルチャネル分離、最高出力周波数25 MHz、サンプリングレート125 MSa/s、波形長16 kpts
スタンダードプローブ	SP3050A，500 MHz，チャネルごとに1セット（SDS 6104 ProとSDS 6054 Pro）

高解像度オシロスコープ、より高精度なテスト要件を満たす

・12−bit高解像度ADCサンプリング、波形詳細をよりよく表現する、

・優れたバックグラウンドノイズ、2 GHz全帯域幅におけるボトムノイズ値は153μVrmsにすぎず、12−bit ADCに性能を十分に発揮させる、

・典型値±0.5%の直流利得精度

優れたユーザーインタフェースとユーザーエクスペリエンス

・12.1インチTFT-LCD大ディスプレイを搭載し、解像度1280*800、

・静電容量式タッチスクリーン、オシロスコープ操作のために定義された各種ジェスチャーは、計器の操作効率を大幅に向上させた、

・Webページから直接遠隔アクセスし、オシロスコープを操作することができるWebServerを組み込む、

・マウスとキーボード操作をサポートする、

さまざまな業界をカバーするシリアル・プロトコルのトリガと復号

鼎陽SIGLENT SDS 6204 H 12 Pro高解像度デジタルオシロスコープは複数のシリアルプロトコルのトリガと復号を提供し、複数の業界をカバーする。

I2C, SPI 組み込みシリアル・プロトコルのトリガと復号

UART PCシリアルプロトコルトリガおよび復号

CAN, CAN FD, LIN, FlexRay ,SENT 自動車シリアルプロトコルトリガ及びデコード

I2S オーディオシリアルプロトコルのトリガと復号

MIL-STD-1553B 航空宇宙シリアルプロトコルのトリガと復号

Manchester イーサネットシリアルプロトコル復号

強力な測定機能

鼎陽SIGLENT SDS 6204 H 12 Pro高解像度デジタルオシロスコープは、水平クラス、垂直クラス、チャネル間遅延クラス、混合測定クラスを含む50種類を超えるパラメータを測定することができる。

パラメータ統計機能は任意のパラメータの5種類の測定値を表示することができます：現在値、平均値、最小値、最大値、標準偏差、12種類の異なるパラメータを同時に測定統計することができます。ヒストグラム統計はパラメータの確率分布状況を直感的に表示することができ、トレンドマップは、時間とともにパラメータの変化規則を反応させることができる。

また、水平方向の測定（周期、パルス幅など）に対して、従来の1フレームで1つの測定値しか得られなかった方法を捨て、1フレーム中のすべての指定された水平項目の測定値を計算して統計に組み入れ、試験効率を大幅に向上させた

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