誘電率及び誘電損失試験器

ネゴシエーション可能更新05/06

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概要

STD-B誘電率及び誘電損失試験器は、高周波Qテーブル、S 916試験装置（治具）、データ収集及びtanδ自動測定コントロール、及びLKI-1型インダクタ群、液体カップ（オプション、液体材料の試験用）から構成される。それは国標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、米標ASTM D 150及び国際電工委員会IEC 60250の規定に基づいて設計製作された。システムは絶縁材料の高周波誘電損失正接値（tanδ）と誘電率（ε）の自動測定ソリューションを提供する。

製品詳細

STD-B誘電率及び誘電損失試験器高周波Qテーブル、S 916試験装置（治具）、データ収集とtanδ自動測定コントロール、およびLKI-1型インダクタセット、液体カップ（オプション、液体材料の試験に使用）から構成される。それは国標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、米標ASTM D 150及び国際電工委員会IEC 60250の規定に基づいて設計製作された。システムは絶縁材料の高周波誘電損失正接値（tanδ）と誘電率（ε）の自動測定ソリューションを提供する。

STD-B誘電率及び誘電損失試験器主な技術指標

ホスト	Q表
しけんそうち	S916
LKI-19個）	√
えきたいカップ	√

1. STD-Bホストパラメータ:

機能名：	STD-B
信号源範囲データ配信サービスディジタル合成信号	10KHZ-110MHz
信号源周波数カバー比	11000:1
信号源周波数精度 6ビット有効数	3×10-5 ±1個の字
Q測定範囲	1-1000自動/手動レンジ
Q解像度	解像度0.1，4ビット有効数
Qさぎょうごさ	<5%
サンプリング精度	11ビット
インダクタンスそくてい 4ビット有効数,解像度0.1nH	1nH-8.4H，解像度0.1nH
インダクタンス測定誤差	<5%
	しゅようりょう30-540pF
コンコンデンサちょくせつそくりょういき	1pF～2.5uF
どうちょうようりょうごさ,解像度	±1pFまたは<1% ,0.1pF
きょうめいてんたんさく	じどうそうさ
Q合格プリセット範囲	5-1000サウンドライトのヒント
Qレンジ切替	自動/手動
液晶ディスプレイパラメータの表示	F，L，C，Q，中尉，CT等
自己残留インダクタンス及び試験リードインダクタンスの自動控除機能	ある
大容量値直接測定表示機能	測定値は2.5uF
ゆうでんそんしつけいすう	精度万分の3
さいしょうゆうでんそんしつ	1万分の1
誘電率	精度千分の一
材料試験厚さ	0.1mm-10ミリメートル

2. 誘電率及び誘電損失試験治具S916：

a）4ビット数明示的調整マイクロロッド、治具損失正接値≦4×10^－4 （1MHz）。

b）≧38ミリメートル;極板ピッチ調整可能範囲： ≥15mm；夹具插头间距：38 mm±0.01 mm治具損失正接値：≤4×10－4 （1MHz）；マイクロロッドの解像度：≦0.001mm。

c）えきたいカップ:直径48mm深さ7mm，と接続可能S916下部プレートを交換して使用する。

3. インダクタンス群LKI-1：5mH,2.5mH,1時間, 250μH,100μH,25μH, 10μH,2.5μH,0.5μH.

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