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安徽創譜計器科学技術有限公司
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卓上X線吸収分光計

交渉可能更新02/05
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概要
卓上X線吸収スペクトル計は、通常の実験室X線光源(同期放射ではない)を用いて、通常の実験室内でX線吸収微細構造測定を完了できる卓上型分析機器である。その目標は非同期放射光源の条件下で、材料の局所原子構造の迅速、便利な特徴付けを実現することである。
製品詳細
卓上X線吸収スペクトル計は、非破壊的な分析技術として、高精度と高感度の特徴があり、近年、材料科学、化学、生物学などの分野で広く応用されている。
その核心原理はX線と物質との相互作用を利用して物質の内部構造と特性を明らかにすることにある。X線が物質を通過すると、物質中の原子や分子と相互作用し、吸収、散乱などの現象が生じる。卓上X線吸収分光器は異なるエネルギーにおけるX線の吸収状況を正確に測定することにより、物質中の元素の種類、含有量及び化学状態などの情報を得ることができる。
卓上型X線吸収スペクトル計は通常のX光源を用いてX線吸収微細構造(XAFS)のスペクトル測定を実現し、シンクロトロン放射などの重大な科学技術インフラストラクチャ及び電子顕微鏡、X線回折計などの科学機器に対して良好な補充と拡張作用を持っている。
  デスクトップシステムを小型化し、使いやすい:
・近辺クイックスキャン機能をサポートする、
・その場テストなどの拡張機能をサポートする、
・人体工学は高度に設計され、操作がより便利である;
・実験パラメータの事前設定を内蔵し、迅速な測定を実現する;
・異なるサンプル、異なる測定モードのワンタッチ自動切り替え、
・遠隔データ伝送、リアルタイムに実験プロセスと結果を表示して無人テストをサポートする、
・専門的な応用技術サポートとデータ分析サポート、
・機器は放射線免除資質と多重安全防護インターロックを有し、人身と使用安全を保証する。
  XAFS専用曲げ結晶:
・異なる結晶面の配置が完備し、各元素のカバーを実現する、
・プリアライメントインストール、プラグアンドプレイ、
・必要な元素に応じて特殊なメニスカスをカスタマイズし、最適な性能を達成することができる。
  X線吸収微細構造(XAFS)分光計X線吸収分光エネルギー走査機構:
・連動走査機構、
・光源、曲げ結晶、サンプルと検出器の精密な連動を実現する、
・精度と解像度が高く、安定性が良い。
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