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メール
sales@dsp18.com
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電話番号
13824381687
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アドレス
深セン市龍崗区平湖水門路104号2棟301室
製品カテゴリー
深セン市迪斯普設備有限公司
概要
DSP-STC 2258型多機能デジタル式四プローブテスターは、四プローブ測定原理を用いて抵抗率/角抵抗を測定する多目的総合測定機器である。DSP-STC 2258型多機能デジタル式四プローブテスターはGB/T 1551-2009「シリコン単結晶抵抗率測定方法」、GB/T 1551-1995「シリコン、ゲルマニウム単結晶抵抗率測定直流二プローブ法」、GB/T 1552-1995「シリコン、ゲルマニウム単結晶抵抗率測定直流四プローブ法」に符合し、米国A.S.T.M標準を参考した。
製品詳細
きかいとくせい
DSP-STC 2258型多機能デジタル式四プローブテスタ
一、概要
DSP-STC 2258型多機能デジタル式四プローブテスターは、四プローブ測定原理を用いて抵抗率/角抵抗を測定する多目的総合測定機器である。この器具の設計はGB/T 1551-2009「シリコン単結晶抵抗率測定方法」、GB/T 1551-1995「シリコン、ゲルマニウム単結晶抵抗率測定直流両プローブ法」、GB/T 1552-1995「シリコン、ゲルマニウム単結晶抵抗率測定直流四プローブ法」に符合し、米国A.S.T.M標準を参考する。
計器セットの構成：本体、オプションの4プローブプローブ、試験台などの部分から構成される。
ホストは主に精密定電流源、高解像度ADC、組み込み式シングルチップシステムから構成される。計器のすべてのパラメータ設定、機能変換はすべてデジタル化キーボード入力を採用し、ゼロビット、満度自己校正機能を有する、電圧電流の全自動変換レンジ、テスト結果はデジタルヘッダによって直接表示されます。本テスターは試験結果分類機能を特別に設け、*大分類10類。
プローブオプション：異なる材料特性の必要に応じて、プローブには複数のオプションがあります。シリコン系半導体、金属、導電性プラスチック類などの硬質材料の抵抗率/角抵抗をテストするための高耐摩耗性炭化タングステンプローブ、球形金メッキ銅合金プローブプローブもあり、可撓性材料導電性薄膜、金属コーティングまたは薄膜、セラミックスまたはガラスなどの基板上導電性膜（ITO膜）またはナノコーティングなどの半導体材料の抵抗率/抵抗を測定することができる。4端子試験治具に交換すると、抵抗体抵抗、金属導体の低、中央値抵抗及びスイッチ類接触抵抗を測定することもできる。専用プローブを配置し、電池極シートなどの箔上被覆抵抗率の抵抗をテストすることもできる。
試験台のオプション：一般的な4プローブ法による抵抗率/正方抵抗配位SZT-AまたはSZT-BまたはSZT-CまたはSZT-F型試験台。二プローブ針法による抵抗率試験はSZT-K型試験台を選択し、またSZT-D型試験台を選択して半導体粉末抵抗率を試験し、SZT-G型試験台を選択してゴム材料抵抗率を試験することもできる。詳しくは『四プローブ計器、プローブと試験台の特徴と型式選択の参考』を参照してください。
計器は測定精度が高く、感度が高く、安定性がよく、知能化の程度が高く、構造がコンパクトで、使用が簡便であるなどの特徴がある。
計器は半導体材料工場のデバイス工場、科学研究機関、高等大学の導体、半導体、半導体材料の導電性試験に適用される。
計器セットの構成：本体、オプションの4プローブプローブ、試験台などの部分から構成される。
ホストは主に精密定電流源、高解像度ADC、組み込み式シングルチップシステムから構成される。計器のすべてのパラメータ設定、機能変換はすべてデジタル化キーボード入力を採用し、ゼロビット、満度自己校正機能を有する、電圧電流の全自動変換レンジ、テスト結果はデジタルヘッダによって直接表示されます。本テスターは試験結果分類機能を特別に設け、*大分類10類。
プローブオプション：異なる材料特性の必要に応じて、プローブには複数のオプションがあります。シリコン系半導体、金属、導電性プラスチック類などの硬質材料の抵抗率/角抵抗をテストするための高耐摩耗性炭化タングステンプローブ、球形金メッキ銅合金プローブプローブもあり、可撓性材料導電性薄膜、金属コーティングまたは薄膜、セラミックスまたはガラスなどの基板上導電性膜（ITO膜）またはナノコーティングなどの半導体材料の抵抗率/抵抗を測定することができる。4端子試験治具に交換すると、抵抗体抵抗、金属導体の低、中央値抵抗及びスイッチ類接触抵抗を測定することもできる。専用プローブを配置し、電池極シートなどの箔上被覆抵抗率の抵抗をテストすることもできる。
試験台のオプション：一般的な4プローブ法による抵抗率/正方抵抗配位SZT-AまたはSZT-BまたはSZT-CまたはSZT-F型試験台。二プローブ針法による抵抗率試験はSZT-K型試験台を選択し、またSZT-D型試験台を選択して半導体粉末抵抗率を試験し、SZT-G型試験台を選択してゴム材料抵抗率を試験することもできる。詳しくは『四プローブ計器、プローブと試験台の特徴と型式選択の参考』を参照してください。
計器は測定精度が高く、感度が高く、安定性がよく、知能化の程度が高く、構造がコンパクトで、使用が簡便であるなどの特徴がある。
計器は半導体材料工場のデバイス工場、科学研究機関、高等大学の導体、半導体、半導体材料の導電性試験に適用される。
二、基本技術パラメータ
1.測定範囲、解像度（括弧内は下に1桁拡張可能）
抵抗：10.0×10-6～ 200.0×103 Ω、分解能1.0×10-6～ 0.1×103 Ω
（1.0×10-6～ 20.00×103 Ω、分解能0.1×10−6 ～ 0.01×103Ω）
抵抗率：10.0×10-6～ 200.0×103Ω−cm分解能1.0×10-6～ 0.1×103 Ω-cm
（1.0×10-6～ 20.00×103 Ω−cm分解能0.1×10-6～ 0.01×103Ω-cm）
ブロック抵抗：50.0×10-6～ 1.0×106Ω/□分解能5.0×10-6～ 0.5×103 Ω/□
（5.0×10-6～ 100.0×103Ω/□分解能0.5×10-6～ 0.1×103 Ω/□）
2.材料寸法（オプション試験台と試験方式により決定）
直径：SZT-A円試験台直接試験方式Φ15～130 mm、ハンドヘルド方式は問わない
SZT-B/C/F方試験台直接試験方式180 mm×180 mm、ハンドヘルド方式は問わない.
長（高）度：試験台直接試験方式H≦100 mm、ハンドヘルド方式は問わない.
測定方位：軸方向、半径方向のいずれでもよい
3.レンジ区分及び誤差レベル
抵抗：10.0×10-6～ 200.0×103 Ω、分解能1.0×10-6～ 0.1×103 Ω
（1.0×10-6～ 20.00×103 Ω、分解能0.1×10−6 ～ 0.01×103Ω）
抵抗率：10.0×10-6～ 200.0×103Ω−cm分解能1.0×10-6～ 0.1×103 Ω-cm
（1.0×10-6～ 20.00×103 Ω−cm分解能0.1×10-6～ 0.01×103Ω-cm）
ブロック抵抗：50.0×10-6～ 1.0×106Ω/□分解能5.0×10-6～ 0.5×103 Ω/□
（5.0×10-6～ 100.0×103Ω/□分解能0.5×10-6～ 0.1×103 Ω/□）
2.材料寸法（オプション試験台と試験方式により決定）
直径：SZT-A円試験台直接試験方式Φ15～130 mm、ハンドヘルド方式は問わない
SZT-B/C/F方試験台直接試験方式180 mm×180 mm、ハンドヘルド方式は問わない.
長（高）度：試験台直接試験方式H≦100 mm、ハンドヘルド方式は問わない.
測定方位：軸方向、半径方向のいずれでもよい
3.レンジ区分及び誤差レベル
| フルネス表示 |
200.0
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20.00
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2.000
|
200.0
|
20.00
|
2.000
|
200.0
|
20.00
|
2.000
|
| 通常レンジ |
kΩ-cm/□
|
kΩ-cm/□
|
Ω-cm/□
|
mΩ-cm/□
|
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|
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| *大規模な拡張レンジ |
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|
kΩ-cm/□
|
Ω-cm/□
|
mΩ-cm/□
|
mΩ-cm/□
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| きほんごさ |
±2%FSB
±4LSB
|
±1.5%FSB
±4LSB
|
±0.5%FSB±2LSB |
±0.5%FSB
±4LSB
|
±1.0%FSB
±4LSB
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||||
3.動作電源：220 V±10%、f=50 Hz±4%、PW≤5W
4.外形寸法：245 mm（長さ）×220 mm（幅）×95 mm（高さ）
正味重量：≤1.5～2.0 kg
4.外形寸法：245 mm（長さ）×220 mm（幅）×95 mm（高さ）
正味重量：≤1.5～2.0 kg
