- メール
- 電話番号
-
アドレス
中国上海市徐匯区零陵路599号愛謙ビル707室
製品カテゴリー
- Zシリーズ立体顕微鏡Leica Z 6 APO
- F 30ライン膜厚テスタ
- F 60全自動膜厚テスタ
- Diener NANOプラズマ洗浄機
- Vista−IR高分解能ナノ赤外線イメージングと分光システム
- LF-2000統合insituナノオペレータ
- 6インチナノインプリントNIL-150
- 受動防振台GWA-TM
- 高精度ナノ延伸システムNano UTM T 150
- RSA 5000シリーズスペクトルアナライザ
- TTR 500シリーズベクトルネットワークアナライザ（VNA）
- MTA 02微力変位試験操縦システム
- PA 1000パワーアナライザ
- TS 2000自動プローブ台
- TS 200 8インチ手動プローブ台
- F 3単点膜厚テスタ
- Candela CS 920表面欠陥検出器
- P 170全自動ウェハプローブ輪郭計/段差計
- NX−Hivac高真空原子間力顕微鏡
- NX−PTR全自動オンライン検出原子間力顕微鏡
- NX−HDM全自動欠陥検出原子間力顕微鏡
- P 17自動ウェハプローブ式輪郭計/段差計
- NX?Wafer全自動ウェハ検出原子間力顕微鏡
- NX-3 DM回転可能全自動原子間力顕微鏡
- Nano observer電気原子間力顕微鏡
- EM−AFM電子顕微鏡その場原子間力顕微鏡
- カソード蛍光イメージング分光検出システム
- SERSチップ基板
- 多機能マスクレスレーザー直写
- 光学表面欠陥分析計
- マスクレスレーザー直写
- Explorer電子ビーム、マグネトロン、熱蒸発薄膜堆積
- DV−502熱蒸発薄膜堆積
- Desktop Pro薄膜堆積−マグネトロンスパッタリング
- BenchTop Turboの熱蒸発とサンプル製造
- Desk V薄膜堆積ソリューション
- 高分光顕微鏡
- フリーサーフェス3 Dファセット検出器
- ウェハ曲げ応力測定器
- ないおうりょくけい
- はんじどうウェハボンディングけい
- きんせつがたリソグラフィき
- アレイ圧力センサシステム
- 原子層堆積システムALD製品
- 電子顕微鏡サンプル洗浄機
- CMP 20電気化学機械研磨機
- レーザ干渉リソグラフィ装置
- VITA反応イオンエッチング機（垂直チャンバ）
- COWIN高フラックス総合プラズマ反応イオンエッチング洗浄システム
- LAVIDAポリパラキシレンコーティング装置
- Coシリーズデスクトッププラズマエッチングマシン洗浄機
- CLONEデュアルモードプラズマエッチングマシン洗浄機
- えきたいりゅうどけい
- MezAFM-携帯型原子間力顕微鏡
- レーザサンプリング
- 精密ガラス切断機（テーブルタイプ）
- ADR低温恒温乾式mKシステム
- 液体粒径計-LPC
- 高温3 Dプリンタ
- ブロック抵抗試験器
- S 100型デジタルソーステーブル
- NX 12生体型原子間力顕微鏡
- Zeta-388自動マルチモード光学プロファイル装置
- TS 200-HP高出力プローブ台
- Zeta-300マルチモード光プロファイル装置
- TS 2000-DP高出力プローブ台
- TS 50手動小型プローブ台
- TS 2500-RF全自動無線周波数プローブ台
- TS 3000自動プローブ台
- MicroXAM 800白色光干渉計
- TS 300 12インチ手動プローブ台
- MDO 34オシロスコープ
- その場AFM in SEM
- パルスレーザ蒸着システム（PLD）
- アクティブ防振台AMT
- Duramin-100硬度計
- 3インチナノインプリントNIL 75
- その場自動ナノオペレーティングシステム
- その場MEMSチップとシンクロトロン放射Holder
- In−SEM HT高温インサイチュナノインデンテーション計
- Duramin-4硬度計
- 高温インサイチュナノインデンテーション計
- アクティブ防振台ARIST
- アクティブ防振台ARISMD
- 受動防振SOTOTT
- 受動防振台GWA-M
- 受動防振台GWA-TO
- アクティブ防振台PMT
- Diener Picoプラズマ洗浄機
- Diener FEMTOプラズマ洗浄機
- FT-NMT 04ナノ力学性能試験システム
- ACCUTOM-10/-100切断装置
- X 1シリーズデジタル調整可能乾燥キャビネット
- EZシリーズ立体顕微鏡
- DM 4500 P半自動知能デジタル偏光顕微鏡
- 徂徠カードMシリーズ立体顕微鏡LeicAM 165 FC/205 FA
- Sシリーズ立体顕微鏡
- 徂徠カードMシリーズ立体顕微鏡LeicAM 125/165 C/205 C/205 A
- DM 750 P専門偏光顕微鏡
- EUV/X線反射鏡
- X線フレネル波帯板（FZP）
- ラスタテンプレート
- MPI Titan無線周波数部品
- GBマイクロ波プローブ
- Quantifoil多孔質キャリア網
- GGBキャリブレーション標準仕様
- カスタム型防振システム
- イオンビームエッチング/堆積システム
- シリコン窒化膜ウィンドウ
- AFM基板
- AFMプローブ
- MPI無線周波数較正基板
- GGB能動高インピーダンス針先
- GGB直流プローブ
- あながたダイプレート
- プリズム結合器
- Duramin-40硬度計
- 4インチナノインプリントNIL-100
- 徂徠カード室温超薄型スライス機Leica EM UC 7
- 膜厚測定器
- BI-2500卓上表面プラズマ共振器
- Estableアクティブ防振台
- BI−4500高フラックス全自動表面プラズマ共振器
- TS 150-HP高出力プローブ台
- Scanwave走査マイクロ波近接場インピーダンス顕微鏡
- MVI散乱走査近接場光学顕微鏡
- TS 150 6寸手動プローブ台
- 4200 A-SCSパラメータアナライザ
- F 40顕微膜厚測定器
- Zeta 20マルチモード三次元光学プロファイル計
上海納騰計器有限公司
概要
アクティブ防振台ARIST
製品詳細
ARISTTアクティブ防振器は軽量なデスクトップ式防振システムであり、軽量化されたアーキテクチャ設計により設置と移動が非常に便利になっている。輸入非圧電式専用技術を採用し、無制限フィードバックセンサが鋼製ばねとエアバッグの高さ結合の受動基礎と結合してもたらす0.5〜100ヘルツの超広幅防振周波数領域は、高加速度での振動衝撃に対応します。
ARISTTシリーズの構成は柔軟で使いやすく、さまざまな負荷とサイズ構成がオプションです。アレイプレート、大部分のAFM、インデンテーション、インプリント、輪郭計などの精密測定設備を搭載することができ、超高速の振動信号フィードバックシステムは試験過程がいかなる影響を受けないことを保証する。
機能
l主な機能
防振：受動モジュールは振動を緩め、センサーは振動信号を検出すると機械バルブを通じて反対方向の力を急速に出力して振動を打ち消す。
振動検出：4つの広範囲センサを内蔵し、環境振動レベルを検出することができる。
l技術的特徴
ARISTTシリーズは従来の圧電式とは異なるセンサーを採用し、制限のない反応速度は振動信号のリアルタイム伝達を保証し、感度の高い広範囲のセンシングシステムは防振効果が常に最適な状態を維持することを保証する。
lぎじゅつりょく
三、応用
ほとんどの中小型精密測定装置は、負荷が200㎏、ベアリング面積の拡張性
四、その他
l国内ユーザー
南京大学
アモイ大学
復旦大学
華南理工大学
l海外ユーザー
