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テイラー・ホプソン粗さ計Surtronic S 116|テイラー

ネゴシエーション可能更新05/06
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概要

タイラー・ホプソン粗さ計Surtronic S 116|タイラー、タイラー・ホプソン粗さ計、篤心計器の現物供給、製品の品質が優れ価格が良い、

製品詳細

テイラー・ホプソン粗さ計Surtronic S 116|テイラー

テイラー粗さ計Surtronic S 116測定パラメータ

SURTRONIC S 116粗さ計

一、S 116標準配置:

表示ユニット、112−1502標準測定針、測定針接続線、マルチラインテンプレート;針上げ機構、USBインタフェース充電器、使用マニュアルUSB通信ケーブル、けいきばこ

二、技術パラメータ

データ表示:

ディスプレイには1ページあたり7つのテスト結果が表示され、スクリーンには輪郭図(断面図)が表示されます。

テスト結果と図面を印刷できます

Talyprofileソフトウェアを使用してコンピュータに接続し、テスト結果を分析することができます

データストア:

計器は100個のテストデータと1つの図形を記憶することができる

計器はUディスクの大4 Gをサポートし、多くは39,000個の図形を記憶することができ、各ロットは10万個のテスト結果を記憶することができ、合計70回のデータを記憶することができる。

Talyprofileソフトウェアを使用してコンピュータに接続すると、無限のデータを保存できます。

電源:

充電器:USBポート5 v 1 A 110-240 VAC 50/60 Hz

充電時間:4時間

バッテリ寿命:1回の充電で2000回のテストが可能

待機時間:5000時間

待機状態から起動試験状態まで、長時間1秒Iを超えない

自動シャットダウン:30秒~6時間で設定可能

三、技術指標:

測定範囲:200 um 100 um 10 um

分解能:100 nm 20 nm 10 nm

ボトムノイズ(Ra):250 nm 150 nm 100 nm

繰返し精度(Ra):1%試験値+アンダーノイズ

センサ原:インダクタンス

測定力:150-300 mg

針先半径測定:標準5μm(200μin)オプションで2μm(80μin)または10μm(400μin)

試験方法:スライドスキャン

キャリブレーション:

自動ソフトウェア較正基準:ISO 4287

四、テストパラメータ:

3つのサンプリング長:0.25 mm、0.8 mm、2.5 mm

2つのフィルタ:2 CR、Gaussian

評価長さ:0.25 mm-12.5 mm(0.01 in-0.49 in)オプション

大ストローク:17.5 mm

テスト速度:

試験速度:1 mm/sec(0.04 in/sec)

回程速度:1.5 mm/秒(0.06インチ/秒)

テストパラメータ:

実行基準:ISO 4287、ISO 13565-1、ISO 13565-2、ASME 46.1、JIS 0601、N 31007

ISO規格は12個のパラメータを測定することができる:Ra、Rv、Rp、Rz、Rt、Rq、Rsk、Rmr、Rdq、Rpc、RSm、Rz 1 max

ASME規格は11個のパラメータを測定することができる:Ra、Rv、Rp、Rz、Rt、Rq、Rsk、Rdq、RSm、Rpm、Rda

JIS規格では14個のパラメータを測定することができます:Ra、Rv、Rp、Rz、Rt、Rq、Rsk、Rmr、Rdq、RSm、RzJIS、Rc、Rku、Rdc

その他:R 3 z(Daimler Benz)

テスト単位:um/uin

五、オプションの添付ファイル

テストプラットフォーム:

00級大理石平板:400 X 250 X 70 mm

有効高さ:280 mm。

可変Y軸V型鉄

調整可能範囲:±5 mm

V型鉄長100 mm

SURTRONIC S 116は、SURTRONIC 25よりも以下のように改良されている:

1、電池はアルカリ性9 Vからリチウム電気充電電池に変更する、

2、ディスプレイはタッチスクリーンである、

3、テスト図面を表示することができます。

4、SURTRONIC 25は10個のパラメータしかテストできず、S 116は異なる基準の下で12、11、14個のパラメータを測定できる(技術パラメータを参照)、

5、もともとSURTRONIC 25はポテンショメータを用いて試験結果を校正していたが、現在は自動ソフトウェア校正に変更された。使いやすい

6、ディスプレイに表示された結果(データと図形)は回転でき、便利に4つの方向からテスト結果を見ることができる、

7、計器の底部はV形で、試験軸類部品は便利で信頼性がある、

8、テストデータ記憶は記憶図形機能を増加した、

9、Uディスクを使用して直接記憶することができ、4 G容量Uディスク1つに3万9000個の図形を記憶することができ、データは70ロットを記憶することができ、ロット当たり10万個のテストデータである。

テイラー・ホプソン粗さ計Surtronic S 116|テイラー