高さゲージの校正は厳格な規範プロセスに従う必要があり、前期準備、校正実施、結果処理の3つの核心部分をカバーし、具体的な規範は以下の通り：
一、前期準備
環境条件
温度：20℃±5℃（熱膨張と冷縮が精度に影響することを避ける）。
湿度：≤80%RH（電子部品の湿気や金属部品の錆防止）。
清潔度：振動、ほこりがなく、測定基準面に汚染がないことを確保する。
キャリブレーションツール
標準ブロック：高さノギスレンジに基づいて0レベルまたは1レベルの精度ブロックを選択します。
校正プラットフォーム：大理石又は鋳鉄プラットフォーム、平面度誤差≦0.005 mm。
清掃工具：無塵布、アルコール（ノギスとブロックを清掃するため）。
記録ツール：記録表、ペンを校正する。
設備検査
外観検査：ノギスに亀裂、さび、傷がなく、目盛りがはっきりしていることを確認する。
機能検査：スライドが順調かどうか、ロック装置が有効かどうか、デジタル表示が正常かどうか（例えば電子ノギス）。
等温処理：スケールとブロックを校正環境に少なくとも2時間置き、温度差を解消する。
二、校正実施
ゼロキャリブレーション
将（しょう）高さゲージの測定爪（または測定ヘッド）がプラットフォーム表面に軽く接触している。
スケールをゼロに戻す（または数字を0.00 mmと表示する）ようにスケールのゼロ位置を調整し、測定爪とプラットフォーム表面の貼り合わせに隙間がないことを確保する。
3回繰り返し、ゼロビット基準として平均値をとります。
しじごさキャリブレーション
キャリブレーションポイントの選択：少なくとも5つのキャリブレーションポイントを選択し、レンジ内（例えば、0 mm、50 mm、100 mm、150 mm、200 mm）に均一に分布する。
操作手順：
標準ブロック（5 mm、10 mm、20 mmなど）をプラットフォーム上に置く。
高さノギスで測定ブロックの高さを測定し、ノギスの表示値を記録します。
計算示度誤差：誤差＝スケール示度−ブロック標準値（例：ブロック標準値10.000 mm、スケール示度10.002 mm、誤差＋0.002 mm）。
誤差は許容範囲内（精度レベル0.02 mmのノギス、許容示度誤差≦±0.02 mm）でなければならない。
くりかえしせいこうせい
同じ校正点（例えば100 mm）で5回繰り返し測定した。
各表示値を記録し、最大値と最小値の差を計算する（例：測定値100.001mm、100.002mm、100.001mm、100.002mm、100.001mm，繰返し誤差は0.001 mm）。
繰り返し誤差は要求（例えば≦0.005 mm）を満たす必要がある。
平行度較正
定規を定盤に固定し、測定爪はそれぞれ2つの平行平面（例えばブロック側面）に接触する。
測定値を記録し、平行度誤差を計算する。
誤差は許容範囲内（例えば≦0.03 mm）でなければならない。
三、結果処理
誤差調整
誤差が許容範囲を超えている場合は、ノギスを調整する必要があります（ゼロビットねじの微調整、測定爪の清掃など）。
調整後、誤差が要求に合致するまで再較正します。
記録とレポート
校正日、環境条件、校正者、校正点、基準値、スケール表示値、誤差値、合否及び調整状況を記録する。
校正証明書を発行し、有効期間（通常は1年）を明記する。
不適合処理
不適合ノギスの修理または廃棄。
定期的に（例えば毎月）簡単な検査を行い、長期的な安定性を確保する。