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優ニコンはfilmetrics膜厚計F 40を携えて2019 BCEIA展示会に参加した
日付:2019-11-05読み:0

優ニコンはfilmetrics膜厚計F 40を携えて2019 BCEIA展示会に参加した

2019年10月23日から26日にかけて、第18回北京分析テスト学術報告会及び展覧会「BCEIA 2019」が北京・国家会議センターで盛大に開幕し、国内外の500社余りの出展企業がもたらした数千の新しい製品と技術、例えば計器設備、試薬、ソフトウェア、分析テストサービスなどを展示する。

優ニコンも相互交流による発展促進を目指して今回の展示会に参加した。展示を持ってきた米Flmetrics社の膜厚計F 40(下図参照)

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展示会の現場図

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優ニコン科技有限公司が提供する設備は膜厚測定を含む、表面輪郭測定;薄膜力学性能測定や制振消磁システムなど多くの分野で、今回の出展はブースのスペース制限のため、より多くの実物展示品を展示に持ち込めなかったのは残念だ。

4日間の出展期間中、優ニコンは多くのユーザーとディーラーと成功的な交流を行い、私たちの製品を展示し、紹介しました。次のBCEIAでは、より豊富な製品とより良いサービスを携えて皆様の到着をお待ちしています。