CIOE中国光博会の熱が襲ってきて、優ニコンはあなたを招待して共に盛会に行きます！
日付：2024-09-02読み：0
今回のCIOE中国光電博覧会には、世界30カ国・地域から3700社を超える良質な出展企業が集まり、光電の全産業チェーンをカバーする総合型展示会として、情報通信、精密光学、カメラ技術及び応用、レーザー及びスマート製造、赤外線、紫外線、スマートセンシング、新型表示などのプレートをカバーしている。優ニコンは第25回中国光電博覧会に出展する！
展覧会へのご来場を誠にお招きします
優ニコンは複数の膜厚計を携えて出展する
あなたと現場で膜厚測定の様々な応用を検討することを期待しています！
現場にはもっと面白いやり取りがあって、賞品に勝つのを待っています～
優ニコン深セン国際コンベンションセンター3号館
パビリオンプレビュー図
より多くのサプライズイベントが徐々にロック解除中
趣味賞品？参加することができます！
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F 50は非常に簡単に最大直線を得ることができる直径450 mmのサンプルフィルムの厚さ分布図。r-θ極座標移動プラットフォームを用いて、必要なテストポイントを迅速に特定し、リアルタイムでテスト厚さを得ることができます。毎秒2点ずつテストします。 |
関連するアプリケーション：半導体製造（レジスト、酸化物／窒化物／SOI、ウエハ裏面研磨）、LCD液晶ディスプレイ（ポリイミド、ITO透明導電膜）、光学めっき膜（ハードコート層、反射防止層）、MEMSマイコン電気システム（レジスト、シリコン系膜層）。 |
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P-7は階段の高さ、粗さ、反り、応力に対して2 Dと3 D測定を行うことができ、そのスキャンは画像の接合を必要とせずに150 mmに達することができる。 |
関連するアプリケーション：フィルム/厚膜ステップ、エッチング深さ測定、フォトレジスト/レジストステップ、フレキシブルフィルム、表面粗さ/平坦度特性化、表面曲率と輪郭解析、フィルムの2 D stress測定、表面構造解析、表面の3 D輪郭画像化、欠陥特性評価と欠陥解析。 |
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F 54-XY-200は自動薄膜厚描画システムを搭載し、F 54−XY−200の先進的なスペクトル反射システムにより、最大200 x 200 mm試料の膜厚を迅速かつ容易に測定することができる。 |
関連するアプリケーション：半導体製造（レジスト、酸化物／窒化物／SOI、ウエハ裏面研磨）、LCD液晶ディスプレイ（ポリイミド、ITO透明導電膜）、光学めっき膜（ハードコート層、反射防止層）、MEMSマイコン電気システム（レジスト、シリコン系膜層）。 |
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Profilm 3 D白色光干渉光学プロファイル計 |
Profilm 3 Dは、先進的な垂直干渉走査（WLI）と高精度の位相干渉（PSI）技術を提供する。強力な性価比でサブナノスケールの表面形態研究を実現する。 |
関連するアプリケーション：粗さ測定；三次元形態特徴づけ、ステップ高さ測定 |
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Film Sense FS-1多波長偏光解析器は寿命長LED光源と非移動式部品偏光解析器を採用し、操作が簡単な小型偏光解析器において信頼性の高い薄膜測定を実現することができる。 |
関連するアプリケーション：シリカと窒化物、高誘電体と低誘電体材料、アモルファスと多結晶材料、シリコン薄膜、フォトレジスト。SiO 2、TiO 2、Ta 2 O 5、MgF 2などの高および低指数膜。TCO（例えばITO）、アモルファスシリコン薄膜、有機薄膜（OLED技術）など |
