走査電子顕微鏡高温インサイチュシステム走査電子顕微鏡（SEM）と高温加熱装置を結合した科学研究機器であり、高温環境下で材料に対してその場力学性能試験とミクロ構造観察を行うことができる。

システム構成：

走査電子顕微鏡本体：二次電子、後方散乱電子探知機などの高分解能電子探知機を備え、表面が敏感な高分解能画像を提供し、サンプルのミクロ形態を観察することができる。

高温その場台：システムの核心部品であり、通常は抵抗加熱方式を採用し、一定の温度範囲内の正確な制御を実現することができる。

制御システム：温度コントローラ、力学コントローラなど、及び相応のソフトウェアを含み、温度、力学ロードなどの条件の正確な制御とリアルタイム監視を実現することができる。

分析付属品：集積可能エネルギースペクトル（EDS）、電子後方散乱回折（EBSD）などの分析ツール、サンプルの形態を観察すると同時に、元素分析と結晶学特徴分析を行う。

動作原理：

電子顕微鏡の電子ビームを走査してサンプル表面を走査することにより、画像形成のために二次電子、後方散乱電子などの信号を生成する。同時に、高温その場でサンプルを設定温度に加熱し、真空環境を維持する条件下で、リアルタイムでサンプルの高温下でのミクロ構造変化を観察し、EDS、EBSDなどの付属品を結合して、サンプルの化学成分、結晶方位などの情報を分析する。

　　走査電子顕微鏡高温インサイチュシステム特徴：

リアルタイム観察：リアルタイムで材料の高温下での変化を監視し、その行為を深く理解することができる。

高解像度イメージング：ナノスケールの微細構造変化を観察できる高解像度画像を提供する。

元素分析：同時に元素分析を行い、材料の高温下の化学成分を確定することができる。

その場実験：加熱、冷却、機械試験を同時に行い、実際の世界条件下での材料の挙動をシミュレーションすることができる。