試料試料試料の限界を打破するための飛行時のマンヘッド走査原子間力顕微鏡

プローブ走査型原子間力顕微鏡（FM-Nanoview LS-AFM）は多くの伝統的な原子間力顕微鏡構造上と試料試料上の限界を打破し、＊先に量産化商品化され、試料不動、プローブ移動走査を実現できる原子間力顕微鏡である。従来の原子間力顕微鏡による試料サイズ、重量測定の限界を打破する。超大試料試料を適用すると同時に、飛翔時マンも試料台の拡張性を強化し、便利な多機器併用原位置試料を実現する。顧客のニーズに応じて、プローブ走査型原子間力顕微鏡をカスタマイズすることができる。半導体材料とグラフェン材料のサンプリング研究に広く応用されている。