ようこそ！ブルックのデスクトップ型X線回折計、D 6 PHASERがビーム埋蔵装置に到着
日付：2024-09-06読み：0
ブルックは業界の先進的な科学機器メーカーとして、X線回折計で重要な地位を占めてきた。
2009年、ブルックはD 2 PHASER X線回折計を発表し、発表されるとユーザー層に大きな反響を呼んだ。
そしてD 6 PHASER X線回折計つまりD 2 PHASERのアップグレード版は、昨年正式に発売された際、すぐに業界内外の人々の注目を集めた。
これは卓上X線回折計として、粉末回折以外の回折計の分析潜在力を大幅に広げただけでなく、伝統的な卓上回折計と落地式回折計の間の機能性差を補充した。
たゆまぬ努力を経て、ブルックD 6という設備実機は来週月曜日に束埋計器に到着し、会社傘下のレントゲン実験室に設置され、レントゲンにしばらく駐留する。
お客様の皆様の訪問を歓迎して、討論、交流を見学します！
束埋蔵計器（上海）有限公司、上海市G 60科創雲廊に位置する。束埋機器はドイツブルック（BRUKER）、国際回折データセンター（ICDD）、ドイツFreibergなどの国際的に有名な実験室分析機器ブランドとの戦略的提携により、急速に業界の有名機器サプライヤーとなった。成約した顧客数は500を超え、売上高は1億+。
レントゲン実験室ビーム埋蔵傘下の第三者実験室であり、国内でX線関連の分析と開発を専門に行っている機関である。レントゲン実験室はより深いX線応用とより専門性の高いソリューションの出力に力を入れている。
結晶構造から電子構造までの包括的な解析、およびオングストロームからミリメータまでのスケーリング特性化を各種類の材料に対して行った。
明らかに、X線回折計は材料学関連分野の基礎であり、不可欠な分析手段である、無傷、サンプルの調製が簡単であるなどの優位性を備えている。X線回折計は一般的にX線光源部分、角計、試料台、光路システム、検出器の5つの大部分から構成されている。
Brukerは既存のD 2 Phaserに基づいて、優れた性能を備えたLYNXEYEシリーズのエネルギー分散アレイ検出器の優位性を結合して、デスクトップ回折器というプラットフォームの上で大胆に新しい構造と運動論理を試みて、強勢に国境を越えたデスクトップ回折システムを発売した—。D6 ファーザー。
Ⅰ.電力オプションのX線光源
D 6 Phaserは2種類のオプションのX線光源パワー、600 W/1200 Wを提供し、テスト強度は大型床置き型モデルに匹敵し、異なる応用ニーズに満足する。
Ⅱ.高精度のアングルメータ
D 6 Phaserは剛玉標本様の全スペクトル範囲内（20−140°）で、いずれの回折ピークの測定誤差も±0.01°を超えず、大型着地式機種の旗振りと同等であることを保証する。
Ⅲ.多機能プラットフォームの拡張
D 6 Phaserは、従来は大規模な床置きモデルにのみ使用されていた多機能テストも同時に実現することができます。たとえば、次のようになります。
◇フィルムすれすれ入射試験（GID）
◇フィルム反射率試験（XRR）残留応力試験
◇テクスチャテスト
◇毛細管透過試験
機能性の観点から、先代のデスクトップ式回折計D 2 PHASERは空間サイズの制限のため、粉末、ブロック、通常のフィルムなどのサンプルの分析テストを完成するしかなく、より多くの機能の拡張を実現することができなかった、
そしてD6 ファーザーデスクトップ型回折計の機能上の制約を破って、次のようになります。
①薄膜すれすれ入射（GID）試験：平行光路と試料の高さを調整できるZ軸試料台の嵌合を利用する、
②応力&テクスチャ試験：点焦点スポットとChiとPhi方向の運動を備えた試料台の配合、
③その場温度変化試験：その場で温度が変化するサンプル倉庫を利用して実現する、
④毛細管透過：毛細管サンプル台と透過光学の配合などが必要であり、これらの応用の開拓は薄膜材料、金属材料、薬物、セラミック材料などの分野で重要な機能拡張を実現し、デスクトップ式回折計の多機能プラットフォームを実現する。
基本構成の選択から、D6 ファーザーより多くの適用性も提供：
①ライトパイプパワー：3つの選択肢が提供され、ユーザーはアプリケーションに基づいてより適切なマッチングを選択することができます。
②自動注入装置：D 6 PHASERが提供する12ビットの自動サンプリング装置はユーザーの選択に供し、人件費を大幅に節約した、
③水冷の選択：D 6 PHASERは自身の内部水冷以外にも、ユーザーは外部接続を選択することができるなど、異なるユーザーの異なるニーズのカスタマイズ案をさらに追求し、サポートしている。
さらに、D6 ファーザーブルックの伝統的な強みを受け継いでいる。
θ/θ走査方式の高精度測角計は、正確な角度位置を与え、物相定性の基礎を築く、同様にLYNXEYE全系のエネルギー分散アレイ検出器を搭載することができ、従来のアレイ検出器に比べてエネルギー分解の機能が多く、騒音と背景のデータへの干渉を大幅に免除し、信号対雑音比とピークバック比を向上させ、あなたの全スペクトルフィッティング、構造精密修理、無標準定量などのために護衛する。
D6 ファーザー2次元回折実現方法D 6 PHASERは反射幾何学下の2種類を提供する2次元回折実現方法、Bragg-2 D及びPhi-1 D走査方法：
Bragg-2 D方法で試料を移動する必要はなく、逆に、大きな入射光路発散度を選択することにより、試料の大面積をX線ビーム下に暴露し、Δϖvs.2 Theta空間で異なる結晶粒からの回折信号を可視化する。
Phi-1 D方法回転試料台を用いて、狭いX線ビームを用いて試料を照射し、検出器は特定の2 Thetaピーク位置に位置し、回転試料を同時に連続検出器スナップショット撮影することによって結晶粒をイメージングする必要がある。対応するX線回折計の試料台配置を図1に示す。
図1.D 6 PHASER固定試料台（左）はBragg 2 D回折用、回転試料台（右）はBragg 2 DとPhi-1 D二次元回折用
図2は、大量の不連続スポットを含む粗粒粉末サンプルの2次元回折図を示している。従来の1次元粉末回折測定では、回折信号は回折線に沿って積分され、ユーザーはサンプルの粒度が不均一であることを認識しない。現在では高速な2次元回折測定のおかげで、ユーザは定量的な1次元を行っていることを認識しているXRD測定前に、サンプルはもっと細かく粉砕されなければならない。
図2.DIFFRAC.COMMANDERインタフェース粗糖サンプルのPhi-1 Dスキャンを示す
画像の水平軸はPhi回転に対応し、垂直軸は検出器スナップショットを表示する。データ収集の使用D6 ファーザー600 W、Coターゲット、K-betaフィルタ、2.5°Sollerコリメータ、可変発散スリット（一定開口、0.25 mm）、空気散乱スクリーンなし。LYNXEYE-2検出器を用いて連続phiスキャンを行い、ステップ長0.9度、露光時間1秒、総スキャン時間401秒、検出器は2 Theta開口4.97°に達した。
第2の例（図3）は、小結晶粒の優先配向状況を示している。垂直線は広い強度変調を示しているが、ランダムに配向された材料の場合、強度は一定であるべきである。さらに、回折信号は異なる幅を有し、微視的歪の存在を示している。この試験アルミニウム箔については、試料の異なる配向試験によってのみ、より良い平均信号を得ることができる。これに対応して、粉末サンプルを測定する際には、サンプルの製造中にできるだけ結晶を再配向させてランダムに配向させたり、小さな接触圧力で粉末を圧縮したりしなければならない。
図3.DIFFRAC.EVAソフトウェア二次元展示Co特性X線測定を用いた圧延アルミニウム板試料のPhi-1 Dスキャンパターン
