一、概要

SNA 6000 Aシリーズベクトルネットワークアナライザは、周波数が26.5 GHzに達し、4つのテストポートを備えており、SSM 5000 AシリーズのスイッチマトリクスまたはSSU 5000 Aシリーズの機械スイッチを通じてポートを24個以上に拡張することができる。マルチポートキャリブレーションの需要を満たし、コネクタの損失を減少させるために、SEM 5000 Aシリーズの電子キャリブレーション部品を選択的に配置し、キャリブレーション時間を大幅に削減することができる。SNA 6000 A矢網のダイナミックレンジは135 dBに達し、新しい設計アーキテクチャを採用し、より強力なデータ演算処理能力を持ち、TDR、ミキサ測定などの多種の機能をサポートし、通信、アンテナ基地局、材料、デバイス、インテリジェント製造、自動車に広く応用できる電子など多くの分野。

二、主要特性

（1）周波数範囲：100 kHz ~ 26.5 GHz

（2）ダイナミックレンジ：135 dB

（3）中間周波数帯域幅範囲：10 Hz〜3 MHz

（4）出力電力設定範囲：-55 dBm ~+10 dBm

（5）4ポートSパラメータ測定、差分（平衡）測定、時間領域分析、スカラーミキサ測定などをサポートする

（6）オプションの電子校正部品、スイッチ行列、機械スイッチ

三、製品特徴

（1）新しいアーキテクチャ、より高精度

SNA 6000 Aベクトルネットワークアナライザは新しい内部アーキテクチャを採用し、より強力なデータ処理能力を備え、応答速度がより速く、4ポートSパラメータ測定、差分（平衡）測定、時間領域測定、帯域幅、Q値などのワンタッチ測定を容易に実現することができる。また、そのダイナミックレンジは135 dBと高く、比較的高い低位相ノイズは、エンジニアが過酷なテストシーンでも正確で信頼性の高いテスト結果を得るのに役立ちます。

（2）電子キャリブレーション部品-キャリブレーションを1ステップで実行する

SEM 5000 Aシリーズ電子校正部品、周波数範囲9 kHz ~ 26.5 GHz、適用鼎陽すべてのベクトルネットワークアナライザは、エンジニアが伝統的な機械校正部品を使用するのに時間がかかり、誤差が大きく、操作が煩雑であるなどの問題を解決するのに役立つ。電子校正部品は校正ステップを大幅に削減し、コネクタの損失を減少し、校正精度を保証し、大幅なキャリブレーションに要する時間を節約し、マルチポートテストとラインテストにより多くの便利です。

（3）スイッチングマトリクス-マルチポートデバイスのテスト要件を容易に実現

スイッチングマトリクスは、マルチポートデバイステストの配線を簡単にすることができ、自動テストシステムの重要な構成部分でもあり、信号の流れを制御する役割を果たしています。SSM 5000 Aシリーズの無線周波数スイッチマトリックスは、周波数範囲9 kHz ~ 26.5 GHzで、鼎陽科学技術のすべての矢網製品に適しており、1台で出力ポートを24個に拡張することができ、また重畳を続けることができる。従来の測定方式に比べて、無線周波数スイッチマトリクスを用いた測定速度は大幅に向上し、エンジニアがベクトルネットワーク分析器と多ポート被測定物の接続と試験を容易に実現するのを助けることができ、またライン使用シーンに適しています。

（4）機械スイッチ-50 GHzまでの周波数

マイクロ波、ミリ波システムのマルチチャネルマルチポートテストのニーズに対応するために、使用を推奨周波数が50 GHzまでのSSU 5000 Aシリーズメカニカルスイッチ。相互に独立してSMAまたは2.4 mmコネクタを持つ1-4個の単刀双投機械スイッチを含み、TTLレベル制御をサポートし、多チャンネル多ポート試験環境に広く応用できる。

（5）ミキサ測定

ミキサはマイクロ波ミリ波システムの重要なコンポーネントであり、その特性の良し悪しは機器や機器の性能に直接影響する。ミキサの開発生産の各段階では、その性能指標を測定する必要がある。

従来のベクトルネットワークアナライザはデュアルポートしかなく、1つの信号源を内蔵しており、外部信号源を利用してローカル信号を提供しなければミキサを測定できず、操作が煩雑であるだけでなく、測定速度が遅く、誤差が大きい。そしてSNA 6000 Aシリーズベクトルネットワークアナライザは4つのポートを持ち、2つの独立した信号源を内蔵しており、外部信号源とコントローラを必要とせずにミキサの周波数変換損失を直接測定することができる。

（6）パルス測定機能

SNA 6000 A内蔵パルス変調器とパルス発生器は、パワートランジスタなどの大電力測定デバイスをテストし、パルスモードで動作する必要があるモジュールに適用される。連続波励起によって蓄積された熱は測定デバイスを損傷する可能性があり、パルス励起を用いた測定はこのようなデバイスの特性を安全に特性化することができ、同時に外部パルス生成器と変調器の制御をサポートし、外部主パルスと同期を維持する。

（7）時間領域解析機能の強化TDR

SNA 6000 Aは高度な時間領域解析機能（TDR）をサポートし、伝送路の特徴インピーダンスを正確に測定し、ブレークポイントまたはショートポイントの特定の位置を特定するのに役立ちます。また、SNA 6000 AのTDR機能は内部シミュレーションによってアイダイヤルを生成することもでき、追加の符号型発生器を必要とせず、波形一致性テストを効率的に完了することができる。信号伝送中のノイズ、ジッタ、符号間クロストークなどの問題をより直感的に分析するために、アイマップ機能を利用することができます。TDR機能はPCB板インピーダンス試験、材料性能試験、伝送路品質試験に広く応用できる。

四、規格パラメータ

五、典型的な応用-無ガラス繊維布PTFE基材の誘電率試験

ベクトルネットワークアナライザを用いて共振周波数と共振器クランプQ値を測定し、試験開始時にまず共振器キャビティ共振周波数とQ値を測定し、その後に測定サンプルをロードして配置後の共振器共振周波数とQ値を測定した。試料の体積及び共振器の他のパラメータが知られている場合、これらの測定を用いて以下の式に代入することにより誘電率及び損失正接を計算することができる。（εₐは複素誘電率、Qは品質因子、f₀は共振周波数、Lₐはインダクタンス、πは円周率）。

εₐ = 1 + （Q²/2πf）₀Lₐ) [1/(1 - Q/(2πf)]₀Lₐ)]