IT 2800ソース表納安（A）級低仕事試験最適化方案

マイクロエレクトロニクス技術の急速な発展と設計レベルの向上に伴い、チップの集積度と演算データ量は顕著に増大した。これにより、チップの消費電力が急激に増加します。そのため、チップは低消費電力設計とテストを行う必要があります。同じ生活の中の一部の電子製品、例えばIOTデバイス、携帯電池給電製品などは、長時間の動作状態を保証するためにも、低消費電力テストを行わなければならない。

低消費電力テストの特徴

静的電流はますます低くなり、uAスリープ電流、さらにはnA−級リーク電流

信号が複雑で、動的電流の変化範囲が大きく、マイクロアンペア（uA）スリープ電流から数百mAまたは数Aの放出まで

電流

電流パルス幅は狭く、一般的には数百マイクロ秒からミリ秒級

高いサンプリングレートと長時間の連続測定が必要

低消費電力テストスキーム

従来案一、高性能電源+数宇万用時計

これは主に低消費電力テストは往々にして動的特性が速く、電源精度が高く、応答速度が速く、また電源自体の読み戻し速度が遅く、漏れ電流の突然変異を避けるために、常にデジタルマルチメーターと協力してデータ収集を行う必要があるからである。

従来案二、電源分析器+高精度電源/ソース表

電源アナライザを用いたデータの分析記録はデジタルマルチメーター機能の代わりに、両者の価格は非常に高く、有料ソフトウェアと協力してテストを完了する必要がある場合もある