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上海市閔行区剣川路955号707-709室
Shanghai Yichi Optoelectronic Technology Co., Ltd
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FourierビームスプリッタFTIRビームスプリッタ/補償器ペアFourier変換赤外(FTIR)分光計におけるマイケルソン干渉計スキームに使用される。FTIR分光計は通常、マイケルソン干渉計に基づいており、ミラーの1つは可動である。2つのミラーは干渉計の2つのアームに位置し、互いに垂直に配向している。ビームスプリッタは直角の頂点に配置され、各ミラーに対して45°の角度で配向されています。ビームスプリッタに渡された光は、さらに両腕に伝播し鏡から反射する2つの部分(理想的には50%/50%)に分割される。ビームスプリッタから1回反射したビーム(図中の上ビーム)も、そこを通過し、傾斜した補償板を通って戻って、別のビームが実際にビームスプリッタ板を3回通過するのを補償しなければならない。可動ミラーを一定距離走査し、検出器に到達する2つのビームの干渉パターンを生成する。